基于FPGA實(shí)現(xiàn)感性元件電阻測試
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圖4、通過定點(diǎn)設(shè)計(jì)模型生成FPGA代碼
4、 測試驗(yàn)證
圖5、感性電阻測試FPGA代碼
圖6、未進(jìn)行降采樣濾波電阻測試效果
如圖6所示，起始跳變是由于線圈充電瞬間造成的，但是由于未進(jìn)行由于線圈感應(yīng)電動(dòng)勢影響所以電阻變化較大，如圖7細(xì)化觀察。
圖7、電阻變化較大
通過降采樣濾波算法，濾除由于電流不穩(wěn)定造成的感性線圈產(chǎn)生電動(dòng)勢導(dǎo)致的電阻波動(dòng)誤差，如圖8所示，感應(yīng)線圈電阻測試穩(wěn)定，通過與6位半DMM比較，結(jié)果一致。
圖8、通過降采樣濾波后的電阻測試
評(píng)論