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智能電纜測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)原理及工程應(yīng)用

作者： 時(shí)間：2011-04-30 來(lái)源：網(wǎng)絡(luò) 收藏
繼電器陣列進(jìn)行自檢，其流程與導(dǎo)通測(cè)試類(lèi)似。以測(cè)試點(diǎn)1和測(cè)試點(diǎn)2為例，首先，閉合測(cè)試點(diǎn)1的輸入繼電器，采樣測(cè)試電壓，如果系統(tǒng)判斷為斷開(kāi)，則可以說(shuō)明測(cè)試點(diǎn)1的輸出繼電器沒(méi)有常閉，反之則說(shuō)明為常閉故障。把測(cè)試點(diǎn)1的輸入繼電器更換為輸出繼電器，采用同樣的方法可以判斷出測(cè)試點(diǎn)1的輸入繼電器是否為常閉故障。其次，分別打開(kāi)測(cè)試點(diǎn)1的輸入和輸出繼電器，如果系統(tǒng)判斷為導(dǎo)通，在第一步的基礎(chǔ)上就可以說(shuō)明兩個(gè)繼電器均正常;如果系統(tǒng)判斷為斷開(kāi)，則兩個(gè)繼電器中至少有一個(gè)為常開(kāi)故障。最后，在外部端口上接入自檢插頭，分別選擇測(cè)試點(diǎn)1的輸入繼電器和測(cè)試點(diǎn)2的輸出繼電器，如果系統(tǒng)判斷為導(dǎo)通，則可以說(shuō)明內(nèi)部繼電器和單板到端口的引線正常，反之則說(shuō)明繼電器到測(cè)試端的引線出現(xiàn)問(wèn)題。

　　

USB自檢流程

　　4 結(jié)語(yǔ)

　　電纜測(cè)試系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)了嵌入式子測(cè)試系統(tǒng)與主控計(jì)算機(jī)的有機(jī)結(jié)合，具有良好的擴(kuò)展性和通用性。經(jīng)實(shí)際測(cè)試，可以實(shí)現(xiàn)多種產(chǎn)品內(nèi)部電纜連接關(guān)系的測(cè)試，大幅提高了測(cè)試效率和準(zhǔn)確性。
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評(píng)論


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