EEPW首頁(yè) >>
主題列表 >>
半導(dǎo)體?測(cè)試?系統(tǒng)?
半導(dǎo)體?測(cè)試?系統(tǒng)? 文章 進(jìn)入半導(dǎo)體?測(cè)試?系統(tǒng)?技術(shù)社區(qū)
測(cè)試技術(shù)發(fā)展趨勢(shì)
- IC測(cè)試、通信測(cè)試、網(wǎng)絡(luò)測(cè)試和虛擬儀器的發(fā)展已出現(xiàn)一些新的勢(shì)態(tài)。 降低測(cè)試成本成為發(fā)展IC測(cè)試的首要目標(biāo) 對(duì)體積更小、功能更強(qiáng)的芯片的需求正推動(dòng)IC產(chǎn)業(yè)的發(fā)展,同時(shí)也推動(dòng)著IC設(shè)計(jì)和測(cè)試的發(fā)展。對(duì)于系統(tǒng)芯片(SOC)的測(cè)試,其成本已幾乎占芯片成本的一半。根據(jù)英特爾公司副總裁提出的測(cè)試摩爾定律,未來(lái)幾年,每一晶體管的硅投資成本將低于其測(cè)試成本。 因此未來(lái)IC測(cè)試設(shè)備制造商面臨的最大挑戰(zhàn)是如何降低測(cè)試成本。 過(guò)去的集成電
- 關(guān)鍵字: 測(cè)試 測(cè)試測(cè)量
半導(dǎo)體?測(cè)試?系統(tǒng)?介紹
您好,目前還沒(méi)有人創(chuàng)建詞條半導(dǎo)體?測(cè)試?系統(tǒng)?!
歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對(duì)半導(dǎo)體?測(cè)試?系統(tǒng)?的理解,并與今后在此搜索半導(dǎo)體?測(cè)試?系統(tǒng)?的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對(duì)半導(dǎo)體?測(cè)試?系統(tǒng)?的理解,并與今后在此搜索半導(dǎo)體?測(cè)試?系統(tǒng)?的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
關(guān)于我們 -
廣告服務(wù) -
企業(yè)會(huì)員服務(wù) -
網(wǎng)站地圖 -
聯(lián)系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國(guó)際技術(shù)信息咨詢(xún)有限公司
京ICP備12027778號(hào)-2 北京市公安局備案:1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國(guó)際技術(shù)信息咨詢(xún)有限公司
