EEPW首頁(yè) >>
主題列表 >>
參數(shù)
參數(shù) 文章 進(jìn)入?yún)?shù)技術(shù)社區(qū)
二極管的參數(shù)分類、特性與應(yīng)用概述
- 二極管的特性與應(yīng)用 幾乎在所有的電子電路中,都要用到半導(dǎo)體二極管,它在許多的電路中起著重要的作用,它是誕生最早的半導(dǎo)體器件之一,其應(yīng)用也非常廣泛。 二極管的工作原理 晶體二極管為一個(gè)由p型半導(dǎo)體和n型半導(dǎo)體形成的p-n結(jié),在其界面處兩側(cè)形成空間電荷層,并建有自建電場(chǎng)。當(dāng)不存在外加電壓時(shí),由于p-n 結(jié)兩邊載流子濃度差引起的擴(kuò)散電流和自建電場(chǎng)引起的漂移電流相等而處于電平衡狀態(tài)。 當(dāng)外界有正向電壓偏置時(shí),外界電場(chǎng)和自建電場(chǎng)的互相抑消作用使載流子的擴(kuò)散電流增加引起了正向電流。
- 關(guān)鍵字: 二極管 參數(shù) 顯示技術(shù)
半導(dǎo)體晶體三極管參數(shù)符號(hào)及其意義
- 一、晶體管基礎(chǔ) 雙極結(jié)型三極管相當(dāng)于兩個(gè)背靠背的二極管 PN 結(jié)。正向偏置的 EB 結(jié)有空穴從發(fā)射極注入基區(qū),其中大部分空穴能夠到達(dá)集電結(jié)的邊界,并在反向偏置的 CB 結(jié)勢(shì)壘電場(chǎng)的作用下到達(dá)集電區(qū),形成集電極電流 IC 。在共發(fā)射極晶體管電路中 , 發(fā)射結(jié)在基極電路中正向偏置 , 其電壓降很小。絕大部分 的集電極和發(fā)射極之間的外加偏壓都加在反向偏置的集電結(jié)上。由于 
- 關(guān)鍵字: 三極管 參數(shù) 顯示技術(shù)
二極管基礎(chǔ)知識(shí)之四--二極管的主要參數(shù)介紹
- 用來(lái)表示二極管的性能好壞和適用范圍的技術(shù)指標(biāo),稱為二極管的參數(shù)。不同類型的二極管有不同的特性參數(shù)。對(duì)初學(xué)者而言,必須了解以下幾個(gè)主要參數(shù): 1、額定正向工作電流 是指二極管長(zhǎng)期連續(xù)工作時(shí)允許通過的最大正向電流值。因?yàn)殡娏魍ㄟ^管子時(shí)會(huì)使管芯發(fā)熱,溫度上升,溫度超過容許限度(硅管為140左右,鍺管為90左右)時(shí),就會(huì)使管芯過熱而損壞。所以,二極管使用中不要超過二極管額定正向工作電流值。例如,常用的IN4001-4007型鍺二極管的額定正向工作電流為 1A。 2、最高反向工作電壓 加在二極管
- 關(guān)鍵字: 參數(shù) 二極管 顯示技術(shù)
基于GPRS的多參數(shù)移動(dòng)監(jiān)護(hù)儀的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)
- 采用GPRS技術(shù),W78E58B微處理器作為控制核心,研制一種便攜式多參數(shù)移動(dòng)監(jiān)護(hù)儀,可以實(shí)時(shí)測(cè)量心電、心率、血壓、體溫以及血氧飽和度,具有數(shù)據(jù)分析、異常報(bào)警功能,并可通過GPRS將數(shù)據(jù)傳輸?shù)奖O(jiān)護(hù)中心。
- 關(guān)鍵字: 設(shè)計(jì) 實(shí)現(xiàn) 監(jiān)護(hù)儀 移動(dòng) GPRS 參數(shù) 基于
基于虛擬儀器的特性測(cè)試參數(shù)數(shù)據(jù)庫(kù)的設(shè)計(jì)
- 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場(chǎng)中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
- 關(guān)鍵字: 虛擬儀器 LabVIEW 參數(shù) 數(shù)據(jù)庫(kù)
Keithley最新升級(jí)版參數(shù)測(cè)試軟件
- Keithley最新升級(jí)版參數(shù)測(cè)試軟件增強(qiáng)并行測(cè)試、RF測(cè)試功能和軟件易用性 美國(guó)吉時(shí)利(Keithley)儀器公司(NYSE代碼:KEI)日前發(fā)布面向S600系列參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)的Keithley交互式測(cè)試平臺(tái)軟件KTE V5.2版。KTE V5.2所具備的多種功能大大提高了前沿電路材料測(cè)試的吞吐量(如RF頻率測(cè)試),并增強(qiáng)了研發(fā)和生產(chǎn)過程中所涉及的并行測(cè)試能力。此外,經(jīng)過升級(jí)的KTE V5.2軟件還大大增強(qiáng)了易用性、簡(jiǎn)化了測(cè)試工作。 最新發(fā)布的KTE軟
- 關(guān)鍵字: Keithley 參數(shù) 測(cè)量 測(cè)試 測(cè)試軟件 升級(jí)版
參數(shù)介紹
參數(shù)(parameter):表征元器件特性或描述元器件安全工作范圍的一些數(shù)據(jù)稱為參數(shù)。參數(shù)一般可從手冊(cè)中查到。
[ 查看詳細(xì) ]
相關(guān)主題
關(guān)于我們 -
廣告服務(wù) -
企業(yè)會(huì)員服務(wù) -
網(wǎng)站地圖 -
聯(lián)系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國(guó)際技術(shù)信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號(hào)-2 北京市公安局備案:1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國(guó)際技術(shù)信息咨詢有限公司
