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嵌入式存儲器的測試及可測性設(shè)計

本文對嵌入式存儲器的測試及可測性設(shè)計進(jìn)行研究總結(jié)，為我國存儲器測試的研究以及集成電路測試產(chǎn)業(yè)的發(fā)展奠定堅實的技術(shù)基礎(chǔ)。
關(guān)鍵字：嵌入式存儲器測試向量可測性

高頻鎖相環(huán)的可測性設(shè)計可測性設(shè)計（Design for Test，DFT）最早用于數(shù)字電路設(shè)計。隨著模擬電路的發(fā)展和芯片集 ...
關(guān)鍵字：高頻鎖相環(huán) 可測性

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