嵌入式存儲(chǔ)器 文章 進(jìn)入嵌入式存儲(chǔ)器技術(shù)社區(qū)
嵌入式存儲(chǔ)器的過去與現(xiàn)在
- 近期臺(tái)積電技術(shù)長孫元成在其自家技術(shù)論壇中，首次揭露臺(tái)積電研發(fā)多年的eMRAM(嵌入式磁阻式隨機(jī)存取存儲(chǔ))和eRRAM(嵌入式電阻式存儲(chǔ)器)將分別訂于明后年
- 關(guān)鍵字： 嵌入式存儲(chǔ)器 MRAM eRRAM 物聯(lián)網(wǎng)
嵌入式存儲(chǔ)器的測試及可測性設(shè)計(jì)
- 本文對嵌入式存儲(chǔ)器的測試及可測性設(shè)計(jì)進(jìn)行研究總結(jié)，為我國存儲(chǔ)器測試的研究以及集成電路測試產(chǎn)業(yè)的發(fā)展奠定堅(jiān)實(shí)的技術(shù)基礎(chǔ)。
- 關(guān)鍵字： 嵌入式存儲(chǔ)器 測試向量 可測性
IoT商機(jī)滾滾 嵌入式存儲(chǔ)器需求暢旺
- 物聯(lián)網(wǎng)(IoT)發(fā)展熱潮將推升嵌入式記憶體需求。行動(dòng)裝置、汽車、工業(yè)等機(jī)器對機(jī)器(M2M)裝置對固態(tài)硬碟需求持續(xù)攀升，加上嵌入式系統(tǒng)因應(yīng)巨量資料(Big
- 關(guān)鍵字： 嵌入式 IoT 嵌入式存儲(chǔ)器
ASIC和SoC設(shè)計(jì)中嵌入式存儲(chǔ)器的優(yōu)化
- 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
- 關(guān)鍵字： ASIC 嵌入式存儲(chǔ)器 SoC IP
嵌入式存儲(chǔ)器的測試及可測性設(shè)計(jì)研究
- 引言 近年來，消費(fèi)者對電子產(chǎn)品的更高性能和更小尺寸的要求持續(xù)推動(dòng)著SoC（系統(tǒng)級(jí)芯片）產(chǎn)品集成水平的提高，并促使其具有更多的功能和更好的性能。要繼續(xù)推動(dòng)這種無止境的需求以及繼續(xù)解決器件集成領(lǐng)域的挑戰(zhàn)，最
- 關(guān)鍵字： 嵌入式存儲(chǔ)器 測試 可測性設(shè)計(jì)
測試嵌入式存儲(chǔ)器的標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)
- 隨著SoC設(shè)計(jì)向存儲(chǔ)器比例大于邏輯部分比例的方向發(fā)展，高質(zhì)量的存儲(chǔ)器測試策略顯得尤為重要。存儲(chǔ)器內(nèi)置自測試(BIST)技術(shù)以合理的面積開銷來對單個(gè)嵌入式存儲(chǔ)器進(jìn)行徹底的測試，可提高DPM、產(chǎn)品質(zhì)量及良品率，因而正
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通過嵌入式存儲(chǔ)器測試和修復(fù)解決良品率問題
- 關(guān)鍵字：存儲(chǔ)器測試系統(tǒng)級(jí)芯片(SoC)中存儲(chǔ)器容量的增加以及嵌入式存儲(chǔ)器支配整個(gè)裸片良品率的事實(shí)，使良品率設(shè)計(jì)(DFY)面臨日益嚴(yán)峻的挑戰(zhàn)，特別是在新興的90nm和65nm半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域。由于嵌入式存儲(chǔ)器容易產(chǎn)生較高的
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飛索轉(zhuǎn)型求生存 鎖定嵌入式存儲(chǔ)器
- NOR Flash產(chǎn)業(yè)昔日霸主飛索(Spansion)在脫離破產(chǎn)保護(hù)后，積極進(jìn)行大反撲，除了快速處理掉2座晶圓廠賣給德州儀器(TI)外，在產(chǎn)品在線也做大幅度的調(diào)整，除鞏固車用NOR Flash產(chǎn)品線之外，也投入相當(dāng)大資源在內(nèi)嵌式NOR Flash領(lǐng)域，這部分一直是飛索最擅長同時(shí)也是成長性最高的一塊市場，包括工業(yè)領(lǐng)域、個(gè)人計(jì)算機(jī)(PC)等市場，未來內(nèi)嵌式NOR Flash產(chǎn)品的成長性相當(dāng)強(qiáng)勁。 飛索表示，除了已耕耘20年的車用NOR Flash產(chǎn)品線外，飛索也會(huì)把大量資源放在內(nèi)嵌式產(chǎn)品上，這會(huì)是未
- 關(guān)鍵字： 飛索 嵌入式存儲(chǔ)器 NOR
華虹NEC兩項(xiàng)新技術(shù)榮獲2009年度中國半導(dǎo)體創(chuàng)新產(chǎn)品和技術(shù)獎(jiǎng)
- 2010年中國半導(dǎo)體市場年會(huì)于2010年3月9日至10日在上海召開。大會(huì)公布了由中國半導(dǎo)體行業(yè)協(xié)會(huì)、中國電子材料行業(yè)協(xié)會(huì)、中國電子專用設(shè)備工業(yè)協(xié)會(huì)、中國電子報(bào)等單位共同評(píng)選出的 “第四屆(2009年度)中國半導(dǎo)體創(chuàng)新產(chǎn)品和技術(shù)”獲獎(jiǎng)結(jié)果，上海華虹NEC電子有限公司(以下簡稱“華虹NEC”)的“0.13微米SONOS嵌入式存儲(chǔ)器工藝技術(shù)”和“芯片超級(jí)同測技術(shù)(SCT)”兩個(gè)項(xiàng)目分獲殊榮。 華虹NEC的0
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華虹NEC參加2010中國半導(dǎo)體市場年會(huì)
- 以“洞悉變革趨勢，把握復(fù)蘇契機(jī)”為主題的2010年中國半導(dǎo)體市場年會(huì)于2010年3月9日至10日在上海召開。大會(huì)圍繞“經(jīng)濟(jì)回暖與市場復(fù)蘇”、“產(chǎn)業(yè)變革與企業(yè)創(chuàng)新”、“兩化融合與新興市場”和“新型顯示與物聯(lián)網(wǎng)”等主要議題進(jìn)行了深入探討。上海華虹NEC電子有限公司(“華虹NEC”)總裁兼首席執(zhí)行官邱慈云博士和市場副總裁高峰先生應(yīng)邀出席了此次會(huì)議。 本次年會(huì)還
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一種改進(jìn)的嵌入式存儲(chǔ)器測試算法
- 基于一種適合于測試靜態(tài)簡化故障的March SS算法，提出了一種改進(jìn)的嵌入式隨機(jī)存取存儲(chǔ)器測試算法－March SSE算法。
- 關(guān)鍵字： 嵌入式存儲(chǔ)器 測試 算法
嵌入式存儲(chǔ)器的設(shè)計(jì)方法和策略
- 本文介紹的設(shè)計(jì)方法包括設(shè)計(jì)概念、網(wǎng)表的建立、設(shè)計(jì)、布線以及存儲(chǔ)器模塊的驗(yàn)證，該方法可確保存儲(chǔ)器模塊在嵌入SoC時(shí)能有效地工作。
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嵌入式存儲(chǔ)器介紹
嵌入式存儲(chǔ)器是在嵌入式微處理器片上集成的存儲(chǔ)器，用來做代碼或其他需要長久數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)。嵌入式存儲(chǔ)器采用的是類似計(jì)算機(jī)的設(shè)計(jì)方法，差異主要體現(xiàn)在體積、功耗、價(jià)格和嵌入式處理器的存儲(chǔ)器大小及可擴(kuò)展性等。 (1)易失性 易失性是區(qū)分存儲(chǔ)器種類的重要外部特性之一。易失性是指電源斷開后，存儲(chǔ)器的內(nèi)容是否丟失，如果某種存儲(chǔ)器在斷電后，仍能保持其中的內(nèi)容，則稱為非易失性存儲(chǔ)器。否則，就叫易失性存儲(chǔ)器。對于 [ 查看詳細(xì) ]
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