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用集成驅(qū)動(dòng)器優(yōu)化GaN性能

將GaN FET與它們的驅(qū)動(dòng)器集成在一起可以改進(jìn)開(kāi)關(guān)性能，并且能夠簡(jiǎn)化基于GaN的功率級(jí)設(shè)計(jì)。
關(guān)鍵字：氮化鎵 TI 集成驅(qū)動(dòng)器

DC/DC轉(zhuǎn)換器中最令人困惑的技術(shù)規(guī)格就是它的靜態(tài)電流，或者說(shuō)IQ。其中一個(gè)原因是每個(gè)廠商都使用不同的專(zhuān)業(yè)術(shù)語(yǔ)和定義來(lái)指定同一件實(shí)物mdash;mdash;至
關(guān)鍵字： DC/DC轉(zhuǎn)換器靜態(tài)電流 TI

光譜分析是一種測(cè)量技術(shù);它通過(guò)測(cè)量材料與不同波長(zhǎng)光的相互作用情況來(lái)檢查材料的屬性。有幾種不同的交互作用可被測(cè)量，包括材料對(duì)光的吸收、反射和透射
關(guān)鍵字：光譜分析 MEMS技術(shù) TI

光譜分析自從作為一項(xiàng)實(shí)驗(yàn)室技術(shù)問(wèn)世以來(lái)，迄今已經(jīng)取得了很大的發(fā)展。手持近紅外 (NIR)光譜分析儀的尺寸在不斷變小，成本也越來(lái)越低，在一定程度上，
關(guān)鍵字：光譜分析近紅外光 TI

近日，德州儀器 (TI) DLP® 產(chǎn)品部的業(yè)務(wù)拓展經(jīng)理 Mike Walker 和 Optecks 的首席技術(shù)官 Hakki Refai 博士發(fā)表文章：二維微機(jī)電(MEMS)陣列為移動(dòng)
關(guān)鍵字： MEMS 光譜分析儀 TI

你也許看到過(guò)他們?cè)谀慵腋浇邅?lái)走去;也許在當(dāng)?shù)氐馁?gòu)物中心中見(jiàn)過(guò)他們的身影mdash;mdash;據(jù)估計(jì)，在智能手機(jī)上安裝的Pokeacute;mon Go的每日活躍用
關(guān)鍵字：近眼顯示技術(shù) AR TI

隨著C型USB連接器成為消費(fèi)者領(lǐng)域的新標(biāo)準(zhǔn)，USB正在進(jìn)入汽車(chē)信息娛樂(lè)系統(tǒng)等更多解決方案。設(shè)計(jì)最高的可靠性時(shí)，車(chē)中處在不同位置的USB端口擴(kuò)展帶來(lái)了獨(dú)
關(guān)鍵字：電池短路汽車(chē)USB TI

汽車(chē)制造商繼續(xù)把信息娛樂(lè)系統(tǒng)作為多媒體體驗(yàn)的延伸。 USB接口一直是信息娛樂(lè)架構(gòu)的基本要素，因此制造商已讓這種原本以消費(fèi)者為中心的接口接受更嚴(yán)格
關(guān)鍵字： USB電路汽車(chē) TI

您有沒(méi)有想過(guò)Sigma;-Delta;模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)如何才能在不同帶寬下獲得如此高的分辨率?秘訣就在于數(shù)字濾波器。Sigma;-Delta; ADC之所以與其他類(lèi)型的
關(guān)鍵字：數(shù)字濾波器 TI

負(fù)載開(kāi)關(guān)的應(yīng)用范圍十分廣泛，從汽車(chē)到手機(jī)，從服務(wù)器到醫(yī)療設(shè)備，因此每個(gè)人都以不同的方式使用負(fù)載開(kāi)關(guān)也就不足為奇了。數(shù)據(jù)表可以顯示性能與規(guī)格說(shuō)
關(guān)鍵字：負(fù)載開(kāi)關(guān) TI

實(shí)體店的購(gòu)物體驗(yàn)近年來(lái)乏善可陳：你來(lái)到商場(chǎng)，在貨架前精挑細(xì)選，作出選擇。與此同時(shí)，零售商們?nèi)匀恢饕揽看蛴〕龅臉?biāo)簽的方式來(lái)吸引消費(fèi)者的注意力
關(guān)鍵字：交互式顯示 TI

　　作者：德州儀器Kaitlin Kirasich　　TI致力于不斷改善在線設(shè)計(jì)體驗(yàn)。為了履行這一承諾，我們誠(chéng)邀世界各地的早期用戶(hù)和工程師來(lái)體驗(yàn)我們的首款未來(lái)HTML5應(yīng)用 — 全新的WEBENCH? 電源設(shè)計(jì)器(Beta版)。本文介紹了WEBENCH? 電源設(shè)計(jì)器的最新增強(qiáng)功能，這些功能能夠幫助您更輕松快速地做出電源設(shè)計(jì)決策。　　輸入?yún)?shù)表　　您首先看到的是經(jīng)過(guò)我們重新設(shè)計(jì)的輸入?yún)?shù)表，如圖1所示。您可以利用該表快速查找您所需的TI設(shè)備，也可以通過(guò)基本輸入?yún)?shù)來(lái)進(jìn)行搜索。高級(jí)設(shè)置能夠引導(dǎo)您完成符合任何標(biāo)
關(guān)鍵字：德州儀器 WEBENCH

　　前言　　三維(3D)掃描是一種功能強(qiáng)大的工具，可以獲取各種用于計(jì)量設(shè)備、檢測(cè)設(shè)備、探測(cè)設(shè)備和3D成像設(shè)備的體積數(shù)據(jù)。當(dāng)設(shè)計(jì)人員需要進(jìn)行毫米到微米分辨率的快速高精度掃描時(shí)，經(jīng)常選擇基于TI DLP?技術(shù)的結(jié)構(gòu)光系統(tǒng)?！　?D掃描系統(tǒng)的誕生　　簡(jiǎn)單的二維(2D)檢測(cè)系統(tǒng)已經(jīng)問(wèn)世多年了，其工作機(jī)制通常是照亮物體并拍照，然后將拍攝圖像與已知的標(biāo)準(zhǔn)2D參考件進(jìn)行比較。 3D掃描則增加了獲取體積信息的能力。引入z維數(shù)據(jù)可以測(cè)量物體的體積、平整度或粗糙度。對(duì)于印刷電路板(PCB)、焊膏和機(jī)加工零件檢測(cè)等行業(yè)而言，測(cè)
關(guān)鍵字： TI DLP