- 今天給大家分享的是：IGBT的損耗與結溫計算。與大多數功率半導體相比，IGBT 通常需要更復雜的一組計算來確定芯片溫度。這是因為大多數 IGBT 都采用一體式封裝，同一封裝中同時包含 IGBT 和二極管芯片。為了知道每個芯片的溫度，有必要知道每個芯片的功耗、頻率、θ 和交互作用系數。還需要知道每個器件的 θ 及其交互作用的 psi 值。這里將主要介紹一下：如何測量功率計算二極管和IGBT芯片的溫升。一、損耗組成部分根據電路拓撲和工作條件，兩個芯片之間的功率損耗可能會有很大差異。IGBT 的損耗可以分解為導
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IGBT 損耗 溫升
- 我們經常討論PCB中損耗大小的問題。有的工程師就會問，哪些因為會影響損耗的大小呢？其實，最常見的答案通常會說PCB材料的損耗因子、PCB傳輸線的長度、銅箔粗糙度，其實答案肯定遠不至于此。下面我們分別就相應參數做一些實驗給大家介紹下PCB板中哪些因素對傳輸線損耗有影響。首先看看介質損耗因子Df對損耗的影響，以Df為變量，分析Df的變化對損耗的影響，下圖是分析的原理圖：仿真對比結果如下，顯然，隨著PCB介質損耗因子的變大，損耗越來越大：長度也是損耗的主要因素之一，把傳輸線長度設定為Len變量，分析Len的變化
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PCB 損耗 仿真
- 高速總線升級迭代的矛盾在于，消費者對性能的需求驅動著信號速率成倍的增長，消費者對便捷性的需求使得傳輸線無法縮短，消費者對低成本的追求要求PCB板材和傳輸線不能太貴，這就導致ISI抖動變得越來越嚴重。均衡(Equalization)就是為了應對ISI抖動，而被廣泛應用的黑科技。既然ISI抖動的根源，是傳輸鏈路對不同頻率信號損耗的差異，均衡就是要想辦法補償掉這個差異，讓不同頻率信號的幅度都能保持均勻。根據均衡技術所使用的位置，一般分為發(fā)送端均衡(Tx EQ)和接收端均衡(Rx EQ)。發(fā)送端均衡一般采用前向均
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傳輸鏈路 損耗 均衡 泰克
- 無橋式圖騰柱功率因數校正（PFC） 級可用于滿足嚴格的效率標準，但使用硅 MOSFET 時出現的較高損耗是不可接受的，而解決方案則是使用寬帶隙碳化硅（SiC）器件。本文將討論能夠實現這些改進的 SiC器件性能參數。
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碳化硅 圖騰柱 PFC 體二極管 恢復 電荷 效率 損耗 輸出電容
- 本文介紹了集成續(xù)流二極管(FWD)的1200V RC-IGBT，并將探討面向軟開關應用的1,200V逆導型IGBT所取得的重大技術進步。IGBT技術進步主要體現在兩個方面：
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IGBT 軟開關 損耗
- 介紹
無線通信接收器前端可能會因同步或異步信號傳輸形成過載[1],在時域雙工系統中，交換器或循環(huán)器連接端口間的非完美隔離會造成前者，后者則由兩個未相關系統天線間造成的非故意耦合產生，在核磁共振(NMR, Nuclear Magnetic Resonance)接收器中，另一個造成過載的原因為發(fā)出刺激脈沖后探針線圈上儲存能量所帶來的振鈴信號[2],縮小低噪聲放大器(LNA, Low Noise Amplifier)器件尺寸的作法雖然可以改善射頻性能，但卻會犧牲過載的承受能力，例如采用0.25μ
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肖特基 PIN 損耗
- 電子產品世界,為電子工程師提供全面的電子產品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術中心和交流中心,是電子產品的市場中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網絡家園
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E-Band 微波 ETSI FCC 損耗
- 為了保證設備的運行速率以及低功耗要求，必須優(yōu)化設備性能。為了提高電他壽命，在系統級、芯片級以及晶體管級...
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手機功耗 損耗
- 電源中的磁性元件一般就是指電感與變壓器，這里我們這種討論初次級隔離的變壓器，因為這種變壓器在開關電源中應...
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電源效率 磁性元件 損耗
- 針對現有LED驅動電路存在電解電容限制壽命的不足，提出了一種無電解電容的LED驅動電路的設計方法。該方法采用Panasonic松下MIP553內置PFC可調光LED驅動電路的芯片，與外部非隔離底邊斬波電路合成作為基本的電路結構，輸出穩(wěn)定的電流用以滿足LED工作的需要。同時設計保護電路來保護負載。實驗結果表明，控制器芯片能穩(wěn)定工作，并且可以實現27 V的恒壓輸出和350 mA的恒流輸出。
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電解電容 驅動電路 恒流 損耗 保護電路
- 摘要：在分析了功率MOSFET其結構特性的基礎上，討論驅動電路的設計，從而優(yōu)化MOSFET的驅動性能，提高設計的可靠性。
關鍵詞：MOSFET；急聚點；損耗
功率MOSFET具有開關速度快，導通電阻小等優(yōu)點，因此在開關
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MOSFET 急聚點 損耗
- 隨著變電站電氣設備故障率的不斷上升，供電公司和重工業(yè)必須著手進行預防和預測性維護，確保電力系統的完整性和可靠性。電氣絕緣問題是電氣設備故障的一個常見原因，而介質損耗/功率損耗/功率因數(PF)測試則經常用于
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損耗 功率因數 測試
- LED燈中的LED芯片是熱流密度很大的電子元件，它們在運行過程中，由于其靜態(tài)與動態(tài)的損耗，產生大量的多余熱量，通過散熱系統發(fā)散到外部，維持其工作溫度的穩(wěn)定。目前LED的發(fā)光效率還是比較低，從而引起結溫升高，壽命
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散熱系統 能量 損耗
- 節(jié)能技術在當今電子行業(yè)中，已成為一個熱點，其中最受關注的是待機功耗。相當一部分產品有一定比例的時間處于輕載或待機(空載)工作模式，而“能源之星”等規(guī)范標準在致力于提升電子設備所用電源適配器工作
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應用 轉換器 解決方案 損耗 待機 創(chuàng)新
- 目前為止，我們認為折射率是實數，但是一般情況下，它是一個復數。復折射率定義為 因此，有一項為exp(-kON1z)，這一項經常被寫為exp(-a)，a稱為損耗系數， 之所以包含在里面，是因為a通常為強度損耗系數，因此我
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系數 損耗 折射 波導
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