国产亚洲精品AA片在线观看,丰满熟妇HD,亚洲成色www成人网站妖精,丁香五月天婷婷五月天男人天堂

首頁　 資訊　 商機(jī) 　 下載　 拆解 　 高校　 招聘 　 雜志　 會(huì)展　 EETV　 百科 　 問答　 電路圖　 工程師手冊 　 Datasheet　 100例 　 活動(dòng)中心　 E周刊閱讀 　 樣片申請
EEPW首頁 >> 主題列表 >> 美國國家儀器公司（ni）

NI推出6款用于NI CompactRIO及NI CompactDAQ平臺(tái)的I/O模塊

  • 美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱 NI)近日針對NI CompactRIO嵌入式控制系統(tǒng) 和 NI CompactDAQ模塊化數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)推出了6款全新的C系列模塊。通過擴(kuò)展C系列平臺(tái), NI為工程師和科學(xué)家提供全新升級的用于廣泛嵌入式控制、監(jiān)測和數(shù)據(jù)采集的各種選項(xiàng)。
  • 關(guān)鍵字： NI  測量平臺(tái)  嵌入式  

在無人機(jī)制導(dǎo)、導(dǎo)航與控制中應(yīng)用半實(shí)物仿真

  • “使用NI PXI，我們能夠在實(shí)時(shí)狀態(tài)下以低延時(shí)完成復(fù)雜的無人機(jī)模型仿真，并完美地模擬了航空設(shè)備界面。”
  • 關(guān)鍵字： NI  HIL  LabVIEW  

使用LabVIEW、PXI、DAQ和DIAdem搭建聲納導(dǎo)流罩監(jiān)測系統(tǒng)

  • “我們使用NI LabVIEW軟件和NI PXI數(shù)據(jù)采集硬件開發(fā)聲納導(dǎo)流罩監(jiān)測系統(tǒng)來采集、處理所有的相關(guān)板載數(shù)據(jù)，并使用NI DIAdem搭建了一個(gè)后處理系統(tǒng)。”
  • 關(guān)鍵字： NI  監(jiān)測系統(tǒng)  LabVIEW  

Qualcomm使用NI VST進(jìn)行802.11ac測試，改進(jìn)測試速度和范圍

  • 就傳統(tǒng)儀器而言，每次測試大約會(huì)取得40個(gè)重要的WLAN收發(fā)器數(shù)據(jù)點(diǎn)。 NI PXI矢量信號收發(fā)儀的測試速度非常快，因此能執(zhí)行完整的增益表掃頻，進(jìn)而采集共300,000個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)。
  • 關(guān)鍵字： NI  Qualcomm  測試  FPGA  

NI參加2012 TD-LTE測試技術(shù)研討會(huì)

  • 美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱NI)于2012年11月23日參加了由工業(yè)和信息化部電信研究院和TD技術(shù)論壇聯(lián)合舉辦的2012 TD-LTE測試技術(shù)研討會(huì)。NI在此研討會(huì)上發(fā)表了題為"重新定義移動(dòng)通信測試——從研發(fā)驗(yàn)證到制造測試"的精彩演講，演講人NI中國無線通信行業(yè)市場經(jīng)理湯敏被評為"企業(yè)演講最佳演講人"。
  • 關(guān)鍵字： NI  TD-LTE  通信  

NI PXI矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀助半導(dǎo)體移動(dòng)設(shè)備制造商降低測試成本

  • 美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱 NI)近日發(fā)布了NI NI PXIe-5632 VNA，它經(jīng)進(jìn)一步優(yōu)化，可幫助工程師滿足日益復(fù)雜的射頻測試要求，而其成本、尺寸和使用所需時(shí)間僅是傳統(tǒng)堆疊式解決方案的極小一部分。
  • 關(guān)鍵字： NI  分析儀  PXIe-5632  

NI TestStand 2012采用新的模塊化框架

  • 美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱 NI)近日發(fā)布全新版本的自動(dòng)化測試管理軟件 —— NI TestStand 2012。憑借其全新的模塊化流程架構(gòu)，NI TestStand 2012幫助工程師提升了自動(dòng)化測試系統(tǒng)的靈活性和吞吐量。新的模塊化架構(gòu)讓測試設(shè)置變得更為容易，擴(kuò)展了測試和報(bào)告的靈活性，讓工程師可在并行測試中同時(shí)進(jìn)行這兩項(xiàng)任務(wù)。
  • 關(guān)鍵字： NI  TestStand  測試系統(tǒng)  

儀器 ? 變革進(jìn)行時(shí)

  • 由美國國家儀器有限公司(National Instruments，簡稱NI)舉辦的“NIDays全球圖形化系統(tǒng)設(shè)計(jì)盛會(huì)”中國站于11月16日在北京萬達(dá)索菲特大飯店圓滿落幕。今年的NIDays以“儀器 ? 變革進(jìn)行時(shí)”為主題，向近千位來自不同行業(yè)的工程師和二十多家行業(yè)媒體全方位展示了NI在推動(dòng)測試測量、控制和設(shè)計(jì)領(lǐng)域及創(chuàng)新技術(shù)應(yīng)用方面一直所做的努力。
  • 關(guān)鍵字： NI  測試測量  嵌入式  

NI TestStand 2012采用新的模塊化框架

  • 美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱 NI)近日發(fā)布全新版本的自動(dòng)化測試管理軟件 —— NI TestStand 2012。憑借其全新的模塊化流程架構(gòu)，NI TestStand 2012幫助工程師提升了自動(dòng)化測試系統(tǒng)的靈活性和吞吐量。新的模塊化架構(gòu)讓測試設(shè)置變得更為容易，擴(kuò)展了測試和報(bào)告的靈活性，讓工程師可在并行測試中同時(shí)進(jìn)行這兩項(xiàng)任務(wù)。
  • 關(guān)鍵字： NI  自動(dòng)化測試  

NI TestStand 2012采用新的模塊化框架

  • NI TestStand 2012采用全新的模塊化框架，能夠簡化自動(dòng)化測試的開發(fā)和報(bào)告生成。NI TestStand 2012包含新的異步數(shù)據(jù)記錄和報(bào)告生成方法，適用于并行測試，還能夠提升測試吞吐量。
  • 關(guān)鍵字： NI  測試  

復(fù)雜的汽車電子系統(tǒng)需要高效的測試解決方案

  • 美國國家儀器公司(NI)在汽車電子領(lǐng)域已經(jīng)耕耘了多年，在半導(dǎo)體技術(shù)與汽車融合的大趨勢下，他們有哪些舉措呢?為此，我們采訪了NI公司汽車電子方面的產(chǎn)品經(jīng)理Noah Reading，聽他來講述NI公司在汽車電子方面的解決之道。
  • 關(guān)鍵字： NI  ECU  汽車電子  

LabVIEW系統(tǒng)設(shè)計(jì)軟件對數(shù)字開發(fā)的影響

  • 長期以來的預(yù)測趨勢揭示了整個(gè)系統(tǒng)設(shè)計(jì)流程中的設(shè)計(jì)和測試趨于統(tǒng)一，這兩個(gè)先前獨(dú)立的功能將被集成在一起。集成功能的明顯優(yōu)勢在于縮短了投入市場的時(shí)間并獲得更好的整體質(zhì)量，而這些優(yōu)勢都?xì)w功于在創(chuàng)建設(shè)計(jì)的同時(shí)集成了測試定義和實(shí)現(xiàn)。在系統(tǒng)設(shè)計(jì)過程中，從仿真到實(shí)現(xiàn)以及最終系統(tǒng)部署，都可以對這些早期測試平臺(tái)進(jìn)行重用。
  • 關(guān)鍵字： NI  LabVIEW  FPGA  

整合高性能儀器和FPGA 實(shí)現(xiàn)最佳WLAN測量

  • 在下一代無線局域網(wǎng)白皮書中已經(jīng)討論了最新的802.11標(biāo)準(zhǔn)存在的一些問題。眾所周知，測試工程師都想盡快找到測試該標(biāo)準(zhǔn)的測試設(shè)備。大多數(shù)測試工程師發(fā)現(xiàn)使用最佳性能的昂貴盒式儀器的傳統(tǒng)方法已經(jīng)無法適用于該情況。出現(xiàn)該問題的原因十分簡單：測試工程師急需各種資源，主要包括時(shí)間、預(yù)算和空間。
  • 關(guān)鍵字： NI  FPGA  WLAN  

NI提供802.11ac WLAN和低耗電藍(lán)牙技術(shù)測試解決方案

  • 全新發(fā)布的針對802.11ac WLAN以及低耗電藍(lán)牙(BLE)技術(shù)測試的NI解決方案集成了NI WLAN測量套件，基于FPGA的NI PXIe-5644R矢量信號收發(fā)儀(VST)以及NI LabVIEW，可以幫助搭建高性能、基于軟件設(shè)計(jì)的測試系統(tǒng)。
  • 關(guān)鍵字： NI  FPGA  WLAN  

NI LabWindows/CVI 2012加速測試測量應(yīng)用程序的開發(fā)

  • NI LabWindows/CVI 2012，是用于測試測量應(yīng)用的ANSI C集成開發(fā)環(huán)境(IDE)的一個(gè)重要的升級更新，它增添了許多全新工具包并包含了許多經(jīng)過改善-了的工具包，能夠幫助工程師更加快速地開發(fā)他們的系統(tǒng)。
  • 關(guān)鍵字： NI  LabWindows/CVI  測試測量  
共1084條 23/73 |‹ « 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 » ›|

美國國家儀器公司（ni）介紹

您好，目前還沒有人創(chuàng)建詞條美國國家儀器公司（ni）!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對美國國家儀器公司（ni）的理解，并與今后在此搜索美國國家儀器公司（ni）的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條

熱門主題

關(guān)于我們 - 廣告服務(wù) - 企業(yè)會(huì)員服務(wù) - 網(wǎng)站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
備案 京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052    京公網(wǎng)安備11010802012473