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EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 調(diào)試

邏輯分析儀在嵌入式開(kāi)發(fā)調(diào)試中的應(yīng)用

  • 邏輯分析儀在嵌入式開(kāi)發(fā)調(diào)試中的應(yīng)用,在嵌入式開(kāi)發(fā)調(diào)試中,開(kāi)發(fā)人員的調(diào)試手段包括斷點(diǎn)、觸發(fā)和跟蹤三種。隨著集成電路技術(shù)的發(fā)展,新一代的嵌入式處理器集成度和工作頻率越來(lái)越高,芯片封裝形式也越來(lái)越趨向表貼化。在線調(diào)試器(ICD)與邏輯分析儀的組合開(kāi)發(fā)
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基于混合信號(hào)示波器的混合信號(hào)電路設(shè)計(jì)及調(diào)試

  • 隨著電子產(chǎn)品的功能變得日益復(fù)雜，混合信號(hào)越來(lái)越多地出現(xiàn)在工程師設(shè)計(jì)的產(chǎn)品中。雖然混合信號(hào)可以給設(shè)計(jì)帶來(lái)靈活性，但由于模擬和數(shù)字信號(hào)有著不同的頻率和幅度特性，因而工程師調(diào)試和測(cè)試產(chǎn)品的難度也增大了。本文
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解析基于SoC的系統(tǒng)設(shè)計(jì)與調(diào)試

  • 　調(diào)試復(fù)雜電子系統(tǒng)從來(lái)就不是一項(xiàng)簡(jiǎn)單的工作，但至少是可以實(shí)現(xiàn)的，您要找到問(wèn)題的所在。采用您最相信的“示波器”，通過(guò)模擬電路到數(shù)字轉(zhuǎn)換，您可以追溯到問(wèn)題的源頭。然后，編寫(xiě)測(cè)試小程序，檢查驅(qū)動(dòng)和
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中低壓變頻器的安裝與調(diào)試分析

  • 1　引言隨著變頻器在工業(yè)生產(chǎn)中的日益普及，變頻器作為一種調(diào)速節(jié)能的產(chǎn)品，已日益受到工礦企業(yè)的重視，成為工業(yè)生產(chǎn)及生活中不可或缺的工具。在石油、化工、建材、電力、礦山、塑料、冶金、水利等關(guān)系國(guó)計(jì)民生的各行
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使用MDO4000進(jìn)行RF模塊功能驗(yàn)證及調(diào)試

  • 本次測(cè)試結(jié)果顯示在射頻信號(hào)中存在干擾。圖2顯示了FPGA驅(qū)動(dòng)的射頻信號(hào)的的波形，圖3顯示了使用單片機(jī)驅(qū)動(dòng)的射頻信號(hào)的波形。兩者的信號(hào)強(qiáng)度一致但是接收距離有明顯的差異，干擾導(dǎo)致了噪聲容限的降低影響接收靈敏度，電源對(duì)系統(tǒng)的干擾確確實(shí)實(shí)的存在。
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LED驅(qū)動(dòng)調(diào)試簡(jiǎn)介

  • 1、芯片發(fā)熱這主要針對(duì)內(nèi)置電源調(diào)制器的高壓驅(qū)動(dòng)芯片.假如芯片消耗的電流為2mA,300V的電壓加在芯片上面,芯片的功耗為0.6W,當(dāng)然會(huì)引起芯片的發(fā)熱.驅(qū)動(dòng)芯片的最大電流來(lái)自于驅(qū)動(dòng)功率mos管的消耗,簡(jiǎn)單的計(jì)算公式為I=cvf
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LED驅(qū)動(dòng)芯片調(diào)試分析

  • 1、芯片發(fā)熱　　這主要針對(duì)內(nèi)置電源調(diào)制器的高壓驅(qū)動(dòng)芯片.假如芯片消耗的電流為2mA,300V的電壓加在芯片上面,芯片的功耗為0.6W,當(dāng)然會(huì)引起芯片的發(fā)熱.驅(qū)動(dòng)芯片的最大電流來(lái)自于驅(qū)動(dòng)功率mos管的消耗,簡(jiǎn)單的計(jì)算公式為I
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在Proteus中進(jìn)行ICCAVR調(diào)試的方法

  • 今天給大家介紹一種即能像AVR Studio 一樣進(jìn)行代碼級(jí)調(diào)試，又可以實(shí)時(shí)看到MCU 狀態(tài)的軟件，Proteus。 大家都知道ICC-AVR 不能進(jìn)行代碼調(diào)試，很多人都選擇了AVRStudio，但是AVR Studio 不直觀，特別是在做液晶顯示代
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實(shí)現(xiàn)KeilC與Proteus連接調(diào)試的方法簡(jiǎn)介

  • 對(duì)于proteus 6.9以后的版本,在安裝盤里或LABCENTER公司有vdmagdi插件,安裝該插件即可實(shí)現(xiàn)與KEIL的聯(lián)調(diào)?！　∈紫劝惭bvdmagdi軟件，然后再進(jìn)行以下設(shè)置：　　Keil設(shè)置　　在Keil軟件上單擊“Project菜單/OpTIons
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ulink-Jlink下在ram和flash中調(diào)試STM32的方法

  • ulink-Jlink下在ram和flash中調(diào)試STM32的方法,Keil MDK3.20 在ULINK下調(diào)試stm32方法1. 程序在RAM中運(yùn)行要點(diǎn)：(1)程序的下載地址改到RAM空間中(2)程序的debug之前要設(shè)定SP，PC指針到Ram空間新建工程，選擇STM32 的具體型號(hào)，我買的萬(wàn)利的開(kāi)發(fā)板，選擇stm32f103Vb。
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顯微鏡用CCD調(diào)試步驟

  • CCD是Charged Coupled Device((電荷耦合器件)的縮寫(xiě)，它是一種半導(dǎo)體成像器件，因而具有靈敏度高、抗強(qiáng)光、畸變小、體積小、壽命長(zhǎng)、抗震動(dòng)等優(yōu)點(diǎn)。測(cè)試CCD主要測(cè)試清晰度和色彩還原性、照度、逆光補(bǔ)償，其次是測(cè)其
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電源設(shè)計(jì)調(diào)試過(guò)程中的異?，F(xiàn)象介紹

  • 調(diào)試過(guò)程中所看到的一些異?，F(xiàn)象，以及后來(lái)的解決辦法。其實(shí)很多工程師認(rèn)為設(shè)計(jì)電源是非常重經(jīng)驗(yàn)的一門技術(shù)，要見(jiàn)多識(shí)廣。這種經(jīng)驗(yàn)，不但體現(xiàn)在設(shè)計(jì)中，更體現(xiàn)在調(diào)試的過(guò)程。當(dāng)你一看到波形，就能把問(wèn)題定位，那就是
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基于嵌入式系統(tǒng)調(diào)試診斷方法

  • 基于嵌入式系統(tǒng)調(diào)試診斷方法,本文介紹了嵌入式系統(tǒng)開(kāi)發(fā)過(guò)程實(shí)際上就是一個(gè)調(diào)試診斷的過(guò)程，而且調(diào)試診斷將一直伴隨著一個(gè)產(chǎn)品的終身，即使是最成熟的產(chǎn)品也偶爾會(huì)出現(xiàn)這樣或那樣的問(wèn)題，這都需要開(kāi)發(fā)人員去診斷、排查。嵌入式系統(tǒng)的調(diào)試包括硬件
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漫談變頻器現(xiàn)場(chǎng)調(diào)試

  • 21ic電源：1 引言隨著科技不斷進(jìn)步，變頻器不斷更新、換代、升級(jí)、演變，并且其應(yīng)用亦日益廣泛。尤其是變頻器的優(yōu)良調(diào)速、節(jié)能、軟啟動(dòng)等性能，倍受廣大用戶青睞。作為變頻器的使用者，掌握和熟悉變頻器的正確現(xiàn)場(chǎng)調(diào)
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單片機(jī)Keil軟件仿真與調(diào)試技巧

  • 一、引言單片機(jī)軟件開(kāi)發(fā)過(guò)程中，軟件調(diào)試遇到的各種問(wèn)題常令初學(xué)者感到不知所措。實(shí)際上。各種仿真開(kāi)發(fā)軟件的程序調(diào)試基本方法和技巧大同小異，掌握正確的程序調(diào)試基本技巧。對(duì)于排查這些程序錯(cuò)誤問(wèn)題可以起到舉一反
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調(diào)試介紹

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