国产亚洲精品AA片在线观看,丰满熟妇HD,亚洲成色www成人网站妖精,丁香五月天婷婷五月天男人天堂

首頁　 資訊　 商機 　 下載　 拆解 　 高校　 招聘 　 雜志　 會展　 EETV　 百科 　 問答　 電路圖　 工程師手冊 　 Datasheet　 100例 　 活動中心　 E周刊閱讀 　 樣片申請
EEPW首頁 >> 主題列表 >> iso國際標準

半導體線寬檢測的首個ISO國際標準發(fā)布

  • 近日，國際標準化組織（ISO）正式發(fā)布了微束分析領域中的一項國際標準：“基于測長掃描電鏡的關鍵尺寸評測方法”（Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Method for evaluating critical dimensions by CD-SEM (ISO 21466)），該標準由中國科學技術大學物理學院和微尺度物質(zhì)科學國家研究中心的丁澤軍團隊主導制定，是半導體線寬測量方面的首個國際標準，也是半導體檢測領域由中國主導制定的首個國際標準，
  • 關鍵字： 半導體  ISO國際標準  線寬檢測  

中國科大主導制定半導體線寬檢測的首個ISO國際標準

  • 近日,國際標準化組織(ISO)正式發(fā)布了微束分析領域中的一項國際標準:“基于測長掃描電鏡的關鍵尺寸評測方法”(Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Method for evaluating critical dimensions by CD-SEM (ISO 21466)),該標準由中國科學技術大學物理學院和微尺度物質(zhì)科學國家研究中心的丁澤軍團隊主導制定,是半導體線寬測量方面的首個國際標準,也是半導體檢測領域由中國主導制定的首個國際標準,
  • 關鍵字： 半導體線寬檢測  ISO國際標準  
共2條 1/1 1

iso國際標準介紹

您好，目前還沒有人創(chuàng)建詞條iso國際標準!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對iso國際標準的理解，并與今后在此搜索iso國際標準的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條

熱門主題

樹莓派    linux   
關于我們 - 廣告服務 - 企業(yè)會員服務 - 網(wǎng)站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術信息咨詢有限公司
備案 京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052    京公網(wǎng)安備11010802012473