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電化學整流電源電聯(lián)接方案的優(yōu)化設計

作者: 時間:2011-02-16 來源:網絡 收藏

西安電力電子技術研究所張大衛(wèi)胡建斌摘要:闡述了目前存在的缺陷,提出了以效率為目標進行,并通過建立模型和目標函數(shù)得以實現(xiàn),證實了這種方法的可行性。
關鍵詞:,損耗,模型,優(yōu)化

本文引用地址:http://www.ljygm.com/article/179797.htm

1引言

是一種高耗能設備,提高整流效率、降低額外損耗是這類電力電子變換裝置的一個重要的課題。一般來說,對于符合要求(電壓、電流、機組效率等)的設計可以有多種,通常首先按照經驗選定整流裝置的電路型式,然后根據(jù)可以選用的最大器件進行計算整流裝置的具體結構[1]。這樣設計可以使并聯(lián)支路數(shù)最少,但是效率并不一定達到最高。隨著大功率器件制造水平的提高以及壓接工藝技術的改進,均流問題也不再突出,所以從效率、損耗方面進行優(yōu)化設計是必要的。

2優(yōu)化設計

2.1問題分析

優(yōu)化就是通過對數(shù)學方法的研究去尋找時間事件的最優(yōu)解[2]。它一般可以用數(shù)學模型描述為:minf(x),s.t.g(x)≥0,x∈D。其中f(x)為目標函數(shù),g(x)為約束函數(shù),x為決策變量,D表示有限個點組成的集合。一個優(yōu)化問題可用三個參數(shù)(D,F(xiàn),f)表示,其中D表示決策變量的定義域,F(xiàn)表示可行解區(qū)域F={x|x∈D,g(x)≥0},F(xiàn)中的任何一個元素稱為該問題的可行解,f表示目標函數(shù)。所以進行優(yōu)化的首要任務就是建立優(yōu)化模型。

計算電化學整流裝置的效率相對復雜,而損耗的計算比較易行和準確,所以一般采用所謂的“分離損耗法”(疊加損耗法)[1],即:η=(1)

式中:η表示效率;

PdN表示直流側輸出總功率;

∑ΔW表示整流裝置總損耗。

這樣求解效率最高的問題就轉換為如何使損耗最小。電化學整流的損耗包括整流裝置損耗、整流變壓器和各類電抗器損耗以及一些輔助系統(tǒng)損耗,而整流裝置的損耗主要是整流器件和快速熔斷器的損耗,所以問題進一步集中在對這兩部分損耗的綜合評估。

2.2優(yōu)化模型確定

圖1整流臂支路結構

根據(jù)上面的分析,優(yōu)化模型的確定也就是與電相關的損耗函數(shù)的確定,電化學整流裝置整流臂支路結構如圖1所示。按照整流裝置的運行特點,為抑制空穴積蓄效應產生的換相過電壓整流器件并聯(lián)RC回路,其電阻R上的損耗在整流裝置的總損耗中所占比例很小,所以整流裝置的損耗主要包括整流器件正向損耗、反向損耗和快速熔斷器損耗三部分。

表1常規(guī)設計與優(yōu)化設計結果的比較


設計結果比較
三相橋式二極管30kA×3/546V型電化學整流裝置電設計
并聯(lián)支路數(shù)(N-1運行)器件正向平均電流電流儲備系數(shù)均流系數(shù)整流裝置效率
傳統(tǒng)設計結果63000A3.060.8599.31%
優(yōu)化設計結果82400A3.2640.8599.33%

(1)整流器件正向損耗計算

電化學整流裝置中整流器件正向損耗ΔWZ為:

ΔWZ=U0IA(AV)+IT2ron(2)

式中:U0為導通門檻電壓;

IA(AV)為整流器件平均工作電流;

IT為整流器件電流有效值;

ron為導通電阻。

對于整流臂為nb個器件并聯(lián),共有m個整流臂的整流裝置器件正向損耗ΔWGZ為:ΔWGZ=m(U0IA(AV)+IT2)(3)

式中:IA(AV)=Id×KAi/(m×KI)

IT=KATIA(AV)

其中:Id為設計輸出直流電流;

KAi為電流儲備系數(shù);

KI為均流系數(shù);

KAT為整流器件電流有效值與平均值關系系數(shù),對于三相橋式整流為1.732。

(2)整流器件反向損耗計算

對整流臂數(shù)m,每臂并聯(lián)支路數(shù)為nb的器件反向功率總損耗ΔWGF為:

ΔWGF=m·nb·UF(AV)·Ir(AV)(4)

式中:UF(AV)為整流器件反向電壓平均值;

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