測(cè)試技術(shù)是航空維修的重要組成部分，不僅使飛機(jī)的作戰(zhàn)性能提高，而且直接關(guān)系到軍機(jī)維修思想、維修方式、甚至維修體制的變革。故對(duì)測(cè)試技術(shù)與軍機(jī)維修體制變革進(jìn)行研究。

1 測(cè)試技術(shù)概述

測(cè)試技術(shù)是指應(yīng)用測(cè)試設(shè)備、工具和方法，按照標(biāo)準(zhǔn)，對(duì)裝備的狀況進(jìn)行判斷。內(nèi)涵如圖1，包含嵌入式測(cè)試支持技術(shù)、測(cè)試設(shè)備和測(cè)試程序等。

測(cè)試技術(shù)分外部測(cè)試和內(nèi)部測(cè)試，分別由自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)和機(jī)內(nèi)測(cè)試設(shè)備(BIT)來(lái)體現(xiàn)。

1.1 ATE技術(shù)

據(jù)統(tǒng)計(jì)，采用ATE技術(shù)能夠使測(cè)試效率提高10倍以上，故障隔離效率提高30％，并可在裝備壽命周期內(nèi)節(jié)省20％以上的測(cè)試費(fèi)用。因此，ATE技術(shù)已成為保持裝備戰(zhàn)斗力的高效設(shè)備。

早在20世紀(jì)50年代美國(guó)就開(kāi)始了ATE的開(kāi)發(fā)研制，其發(fā)展經(jīng)過(guò)了4個(gè)階段：20世紀(jì)60年代以前主要以人工或?qū)Ｓ脺y(cè)試儀器進(jìn)行測(cè)試的早期階段；60～70年代中期發(fā)展成由計(jì)算機(jī)控制的專用化半自動(dòng)、自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的發(fā)展階段；80年代中期則以微型計(jì)算機(jī)、獨(dú)立操作系統(tǒng)、IEEE2488、CAMAC、RS2232總線結(jié)構(gòu)為標(biāo)準(zhǔn)，多功能、易組合、可擴(kuò)展式ATE階段；80年代中期至今進(jìn)入以VXI總線為標(biāo)準(zhǔn)的低成本、高性能、便攜式ATE的完善期階段。

現(xiàn)在航空裝備設(shè)計(jì)中廣泛采用外場(chǎng)可更換單元(LRU)技術(shù)，LRU種類、數(shù)量不斷增多。由于部件的自檢測(cè)能力有限，導(dǎo)致多種類別和結(jié)構(gòu)形式的ATE大量出現(xiàn)，測(cè)試過(guò)程變得復(fù)雜。美國(guó)空軍在1985年提出ATE的研制要求，即體積小、成本低、性能高、可移動(dòng)、模塊化、多用途和標(biāo)準(zhǔn)化的ATE。

1.2 BIT技術(shù)

BIT技術(shù)是指系統(tǒng)設(shè)備依靠?jī)?nèi)部專設(shè)的自檢測(cè)電路和軟件，來(lái)完成自身工作參數(shù)的檢測(cè)和故障自診斷，然后執(zhí)行故障隔離的一種綜合能力。由于BIT能夠監(jiān)控主要工作參數(shù)、向操作和維修人員報(bào)告工作狀態(tài)、預(yù)測(cè)未來(lái)可能發(fā)生的故障，已成為現(xiàn)代裝備不可缺少的組成部分，主要用于維修和維護(hù)檢測(cè)，對(duì)于裝備的安全可靠運(yùn)行和維修具有重要意義。