NI (美國國家儀器公司，National Instruments，簡稱NI) 作為致力于為工程師和科學家提供解決方案來應對全球最嚴峻的工程挑戰(zhàn)的供應商，宣布“第十三屆PXI技術和應用論壇(PXI TAC 2016)”將于2016年6月16日于上海雅居樂萬豪酒店舉行。

　　PXI TAC是國內首屈一指的專業(yè)技術論壇，連續(xù)舉辦13年，已經成為業(yè)內歷史最悠久、影響力最大的技術交流和成果展示平臺。今年，PXI TAC進一步擴大活動規(guī)模，預計將有來自全國各地的多達500余名行業(yè)領軍人物、技術專家和相關機構代表相聚一堂，共同分享最新、最全、最前沿的測試領域技術干貨，探討PXI技術的發(fā)展趨勢和應用案例，所有參與者也將有機會與來自全國的行業(yè)精英與同仁面對面交流，目睹更多基于PXI技術的創(chuàng)新解決方案。

　　作為一年一度的行業(yè)盛會，今年PXI TAC的亮點包括：

　　 PXI新技術平臺區(qū)，包括業(yè)內首創(chuàng)的PXI Gen3系統(tǒng)和NI的PXImc技術等;

　　 工業(yè)應用區(qū)，展現(xiàn)NI針對自動化測試平臺、半導體測試、射頻通信和物聯(lián)網等領域的PXI應用案例;

　　 客戶服務區(qū)，由NI工程師現(xiàn)場提供技術維修服務咨詢和優(yōu)化的客戶培訓課程;

　　 基于PXI構建自動化測試系統(tǒng)動手課程，體驗基于PXI平臺和LabVIEW、TestStand等軟件規(guī)劃、設計、開發(fā)、實現(xiàn)并優(yōu)化一個完整自動化測試系統(tǒng)的全過程。

　　借助本次全國精英相聚一堂的契機，本年度PXI TAC還特設了半導體測試應用論壇，針對“物聯(lián)網驅使下半導體測試的挑戰(zhàn)和解決方案”等熱點議題，邀請行業(yè)專家、技術領袖及資深用戶，圍繞NI在半導體行業(yè)的解決方案，深入探討半導體測試應用的挑戰(zhàn)及應對解決方案。

　　此外，本屆PXI TAC也成功吸引了業(yè)內眾多廠商的積極參與，北京經緯恒潤科技、上海其高電子、北京中科泛華、上海聚星儀器等14家公司將作為參展商參與此次盛會，展示各自借助PXI技術開發(fā)的多項創(chuàng)新成果。

　　PXI TAC現(xiàn)已開始接受報名。如需報名或了解更多詳情，請登陸NI官方網站的PXI TAC活動專題頁：

　　http://sine.ni.com/nievents/app/overview/p/eventId/3182/site/cn/country/cn/lang/zhs/scope/country/location/cn