目前大多數(shù)儀器采用封閉式FPGA(現(xiàn)場可編程門陣列)和固定的固件實現(xiàn)儀器的功能。如果你曾見過示波器的拆解，你也許見過里面的FPGA。FPGA可以增加測試儀器的處理能力，如果你曾使用過儀器的開放式FPGA，你就會知道可以將自定義的測試功能編程進儀器中。
儀器供應商早就了解FPGA的好處，并且一直在充分發(fā)揮FPGA獨特的處理能力優(yōu)勢來豐富的功能，比如：儀器
● 能夠在示波器上完成預觸發(fā)捕獲
● 能夠利用信號處理功能在矢量信號分析儀上產(chǎn)生I和Q數(shù)據(jù)
● 能夠在高速數(shù)字儀器上實時進行圖案發(fā)生和矢量比較
測試設備制造商現(xiàn)在開始向用戶開放FPGA以提供更多特殊應用的優(yōu)化。為了幫助理解為何這是一個好的轉(zhuǎn)變，下面列出了在測試應用中使用FPGA的一些關鍵特性：
● 確定性，實時處理
● 真正并行的執(zhí)行
● 可重配置
● 低延時
更進一步講，利用開放式FPGA可以實現(xiàn)哪些以前不能實現(xiàn)的功能呢？為了描述這些可能性，下面將介紹一些利用開放式FPGA的常見測試應用。
測試系統(tǒng)加速
在大批量生產(chǎn)線的最終產(chǎn)品測試中，每一秒的測試時間都很寶貴。當產(chǎn)品測試速度與生產(chǎn)速度相匹配時，生產(chǎn)線的效率就是最高的。當兩者速度不匹配時，就必須采用創(chuàng)新的技術來縮短測試時間。傳統(tǒng)方法需要使用多臺分開的臺式儀器，它們通過以太網(wǎng)、USB或GPIB連接到一臺PC主機。這種測試的速度相對較慢，因為待測設備的控制、測量以及通過數(shù)據(jù)總線的處理是分開進行的。另外一種方法是使用開放式FPGA來加速這個過程，如圖1所示。



圖1：在測試儀器中，開放式FPGA可以增加諸如觸發(fā)和后處理等功能。

與使用外部通信總線不同，F(xiàn)PGA可以使用高速總線(如PXIe)連接儀器，并通過其配置端口(如I2C、SPI或另外的控制總線)連接待測設備(DUT)。這種應用中的FPGA可以控制待測設備，觸發(fā)其它儀器開始捕獲樣本，甚至將這些樣本處理成對主機來說有意義的結果。
低時延是加速這類應用的一個關鍵因素。FPGA沒有操作系統(tǒng)，但所有的邏輯都是用硬件實現(xiàn)，并且這些硬件工作的時鐘速率很高。這意味著響應只需花一個時鐘周期捕獲、一個時鐘周期處理和一個時鐘周期輸出結果。當時鐘速率為200MHz(時鐘周期為4ns)時，完整的響應時間只需12ns。由于FPGA的確定性特點，12ns的響應時間不是只有一次，而是每次都是。因此FPGA不僅可以避免與使用主機有關的延時，而且能夠最大限度地減小主機處理時的非確定性延時。
協(xié)議的處理
今天，并不是所有數(shù)字和MEMS設備都能用已知結果矢量進行測試。就拿脈沖密度麥克風(PDM)來說，如果給它一個激勵信號，你不能期望每次測試得到的比特流是完全相同的，這是因為PDM是模擬設備。為了從這些類型的待測設備獲得有意義的結果，在比較結果之前你首先需要用其特定的協(xié)議對數(shù)字流進行解碼。借助開放式FPGA，你可以在FPGA上配置你的測試系統(tǒng)來實現(xiàn)PDM協(xié)議，不必再傳至CPU進行解釋。進一步拓展這個概念，今天你可以配置這個FPGA實現(xiàn)PDM協(xié)議，明天你又可以重新配置同樣這個FPGA實現(xiàn)不同的協(xié)議，比如用于測試數(shù)字溫度傳感器、加速度計或MEMS設備的協(xié)議。
在圖2中，協(xié)議不是在CPU上實現(xiàn)，而是在FPGA上實現(xiàn)。正因為此，測試系統(tǒng)現(xiàn)在自身就可以支持快速握手腳本，適應精確等待周期等協(xié)議行為，并根據(jù)通信內(nèi)容做出決策。這種方法不僅能讓你從待測設備接收更高層數(shù)據(jù)，比如在PDM麥克風場合中解碼的模擬數(shù)據(jù)，而且允許你用更高層命令編寫測試腳本。


圖2：FPGA可以用來處理協(xié)議，知曉總線使用的協(xié)議內(nèi)容。