便攜式技術(shù)的發(fā)展使人們越來越依賴蜂窩電話、PDA和導(dǎo)航系統(tǒng)這類便攜式裝置。隨著處理器技術(shù)的不斷進步，過去幾年中大容量存儲器件的設(shè)計和開發(fā)呈指數(shù)級增長。例如，從蘋果公司的iPod Mini到尺寸更小的iPod Nano產(chǎn)品，重新設(shè)計的關(guān)鍵部件不是速度更快的處理器，而是采用閃存取代了硬盤。這些裝置的可靠性取決于存儲器的正確設(shè)計和測試。

在開發(fā)和測試存儲器件方面，工程師面臨著許多挑戰(zhàn)。要獲得更低的消費價格，就要不斷削減測試成本和時間。一直以來，設(shè)計團隊不得不為每個設(shè)計購買或租賃昂貴的高端存儲器測試設(shè)備。而PC的普及和FPGA技術(shù)的發(fā)展則催生出一種用于驗證存儲器件的新型、低成本測試設(shè)備。基于PC的混合信號平臺，諸如圖1所示的PXI(用于儀器的PCI擴展)測試系統(tǒng)，可以安裝在工程師的桌面上并提供比其它方案成本更低的、測試所必需的功能。利用這些平臺，工程師可以盡早測試其設(shè)計，并將測試貫穿到整個開發(fā)過程之中。

本文將探討存儲器測試解決方案的開發(fā)以及驗證功能和物理連接所需的測試設(shè)備功能。并分析除了滿足存儲器基本功能測試之外，如何擴展測試能力。

存儲器測試的主要目標(biāo)是驗證存儲器件上的每一個存儲位都能夠可靠地儲存數(shù)據(jù)。驗證存儲器件所需的關(guān)鍵測試包括驗證物理連接、檢查存儲器的每一位并描述器件特征。采用基于PC的平臺，例如PXI，工程師可以利用標(biāo)準(zhǔn)的編程語言(例如NI LabVIEW和C/C++)開發(fā)定制、低成本測試系統(tǒng)，以滿足存儲器測試的要求。

驗證物理連接(包括存儲器地址和數(shù)據(jù)I/O線)對于確保數(shù)據(jù)被正確存儲在所期望的位置至關(guān)重要。地址線規(guī)定每一個操作的存儲位置，而雙向數(shù)據(jù)線負責(zé)將數(shù)據(jù)輸入和輸出存儲器。如果有一個物理連接發(fā)生故障，其它測試也會出錯。
圖1：應(yīng)用于桌面的PXI混合信號測試系統(tǒng)。