泛華測控受邀參加12th國際電子測量與儀器學術會議
日前,由中國電子學會、IEEE Beijing Section主辦的第12屆國際電子測量與儀器學術會議(12thICEMI)在青島落下帷幕,北京中科泛華測控技術有限公司(簡稱:泛華測控)作為受邀企業(yè)全程參與了會議。
本文引用地址:http://www.ljygm.com/article/277844.htm本著“產學研”合作的目的,泛華測控現(xiàn)場向參會嘉賓展示了適用于教學演示用的“多功能數據采集儀”,該產品在教學中可通過直觀的數據和動態(tài)圖像的變化,輕松實現(xiàn)電壓采集、電壓輸出、電流輸出、溫度采集、超聲波測距等測試項目的演示,吸引了眾多高校師生的目光。

泛華測控多功能數據采集儀
會議期間,泛華另一款產品“便攜式測振儀”引起了英國劍橋光電子與傳感器組教授、主任初大平的興趣,他來到展位前,認真觀看了產品的外形、軟件界面,并詢問了產品的使用環(huán)境、功能以及適用領域。“這款產品最大特點的是便攜,適用于實驗室及外場,尤其解決了普通機箱在實驗室中移動不便的問題,并擁有專業(yè)的分析算法,提供基本分析和高級分析的功能,非常適合實驗室、研究所等科研環(huán)境的需要。”泛華現(xiàn)場工程師向其介紹道。

劍橋教授初大平蒞臨泛華展臺參觀
ICEMI會議是當前電子測量與儀器領域頂級的學術盛會,兩年一屆,來自全球的數百位專家、教授、學者、工程技術人員齊聚于此,為行業(yè)的發(fā)展、科研的未來及尖端技術的前景群策群力。泛華測控作為一家為致力于為各行業(yè)用戶提供高品質測試測量解決方案和成套檢測設備的企業(yè),有責任貢獻出一份力量。


嘉賓與工程師現(xiàn)場熱烈交流
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