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減少元器件離散性影響的電機(jī)負(fù)載判斷方法

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作者:姜德志 時(shí)間:2007-12-04 來(lái)源:電子產(chǎn)品世界 收藏

作者:姜德志 (中國(guó)海洋大學(xué)信息科學(xué)與工程學(xué)院)陳艷麗 (海爾集團(tuán)科技公司開(kāi)發(fā)部)

摘要:本文介紹了一種電機(jī)負(fù)載檢測(cè)方法,通過(guò)檢測(cè)第1個(gè)脈沖寬度的方法而不是通過(guò)檢測(cè)脈沖個(gè)數(shù)來(lái)檢測(cè)電機(jī)負(fù)載的多少,從而可以大大減小由于元器件參數(shù)離散性引起的誤差。文中以詳細(xì)的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)來(lái)說(shuō)明了該方法的可靠性。

關(guān)鍵詞:負(fù)載判斷 傳輸比 脈沖寬度

背景:在一些應(yīng)用中,經(jīng)常需要對(duì)負(fù)載大小進(jìn)行檢測(cè),例如電機(jī)拖動(dòng)、家電等,有一個(gè)簡(jiǎn)單的方法是測(cè)電機(jī)發(fā)電狀態(tài)時(shí)脈沖個(gè)數(shù)來(lái)進(jìn)行負(fù)載大小的檢測(cè)和判斷,這種方法適合于感應(yīng)電機(jī)。
  檢測(cè)原理如下:
  電機(jī)負(fù)載不同,對(duì)電機(jī)產(chǎn)生的阻力不同,如果給電機(jī)通電一個(gè)固定的較短的時(shí)間,負(fù)載的大小就會(huì)直接影響電機(jī)所能達(dá)到的最高轉(zhuǎn)速。停止電機(jī)供電,電機(jī)由于慣性會(huì)繼續(xù)轉(zhuǎn)動(dòng)。由于電機(jī)轉(zhuǎn)子剩磁的存在,自由轉(zhuǎn)動(dòng)的電機(jī)就處于發(fā)電狀態(tài),同樣受負(fù)載大小的影響,和轉(zhuǎn)速不同,電機(jī)自由轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)發(fā)出交流信號(hào)脈沖個(gè)數(shù)就會(huì)不同。檢出這個(gè)脈沖個(gè)數(shù),就可以大概的判斷出負(fù)載的大小。
  在這種處理過(guò)程中,通常采用的硬件電路如圖1所示,
 
                                       圖1
  當(dāng)電機(jī)處于發(fā)電狀態(tài)時(shí)產(chǎn)生的交流電壓信號(hào)經(jīng)過(guò)光耦轉(zhuǎn)換為矩形波脈沖信號(hào),單片機(jī)通過(guò)檢測(cè)這個(gè)脈沖信號(hào)就可以獲得電機(jī)轉(zhuǎn)動(dòng)情況,通常通過(guò)檢出脈沖的個(gè)數(shù)獲得負(fù)載數(shù)據(jù)。
  實(shí)際應(yīng)用中,當(dāng)電機(jī)處于發(fā)電狀態(tài)時(shí),由于電機(jī)轉(zhuǎn)動(dòng)越來(lái)越弱,再加上剩磁越來(lái)越弱,發(fā)出的信號(hào)必然越來(lái)越弱(如圖2所示),此時(shí)經(jīng)過(guò)光耦轉(zhuǎn)換后的脈沖如圖3所示,最后非常弱的電壓信號(hào)就變成了很窄的脈沖信號(hào)。
 
                                                圖2
 
                                           圖3
  由于光耦傳輸比的不同,即使電機(jī)發(fā)出信號(hào)相同,經(jīng)過(guò)光耦轉(zhuǎn)換后的信號(hào)也會(huì)不同,圖3所示的是光耦傳輸比為150時(shí)的脈沖信號(hào),圖4所示的是光耦傳輸比為80時(shí)的脈沖信號(hào)??梢钥闯鰣D4比圖3少一個(gè)脈沖。

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                                           圖4
  檢測(cè)脈沖個(gè)數(shù)的方法,可能就會(huì)因?yàn)楣怦顐鬏敱鹊牟煌鴰?lái)較大的判斷誤差,這一點(diǎn)在我們的實(shí)際使用中也確實(shí)發(fā)現(xiàn)了問(wèn)題,用不同批次光耦生產(chǎn)的整機(jī)判斷結(jié)果有很大的差異。
  本人結(jié)合多年開(kāi)發(fā)的經(jīng)驗(yàn),給出一種新的方法,可以大大減小光耦傳輸比離散性的影響。

方法: 

  電機(jī)發(fā)電產(chǎn)生的電壓信號(hào)是正弦波,在幅度達(dá)到一定高度后,光耦會(huì)工作在飽和導(dǎo)通的狀態(tài),此時(shí)傳輸?shù)男盘?hào)與光耦傳輸比沒(méi)有關(guān)系。
對(duì)于信號(hào)幅度低時(shí),光耦將工作在放大狀態(tài),此時(shí),光耦傳輸比的影響符合下面的關(guān)系式。
 ――――式1
  這個(gè)式子不是等號(hào)和乘積關(guān)系,代表正比關(guān)系。
  式中,
  VA:光耦受光端產(chǎn)生的電壓,這個(gè)電壓越高,N1放大后信號(hào)幅度越大。
 K:其他參數(shù)影響的系數(shù),由于電阻等的影響很小,可以認(rèn)為是常數(shù)
 VAC/R1:光耦發(fā)光端發(fā)光電流。其中VAC就是電機(jī)發(fā)電產(chǎn)生的信號(hào)的電壓幅度
 POP:光耦傳輸比
 VCC:光耦受光端上拉的電壓幅度。
  從這個(gè)關(guān)系式可以看出,由于POP的變化范圍大(0.8~1.6),對(duì)信號(hào)處理的結(jié)果的影響也大。如果電壓信號(hào)多數(shù)是弱信號(hào),光耦多數(shù)工作于放大狀態(tài),則對(duì)測(cè)量結(jié)果帶來(lái)的影響必然大。
  而從圖2可以看出,電機(jī)剛處于發(fā)電狀態(tài)時(shí),發(fā)出的電壓最高,此時(shí)光耦會(huì)更多的工作在飽和狀態(tài),這樣第1個(gè)脈沖應(yīng)該是光耦離散性影響最小的。
  通過(guò)觀察圖3和圖4我們也可以發(fā)現(xiàn),對(duì)同一型號(hào)的光耦,無(wú)論光耦傳輸比怎樣變化,第一個(gè)脈沖寬度基本是一樣的,因此檢測(cè)第一個(gè)脈沖的寬度,就可以避免光耦傳輸比的影響。
  但除了減少零部件的影響之外,還必須能夠?qū)ω?fù)載大小進(jìn)行判斷,所以我們進(jìn)行了實(shí)驗(yàn).
  實(shí)驗(yàn)1:
    我們?cè)偻慌_(tái)機(jī)器上用不同負(fù)載進(jìn)行檢測(cè),獲得了不同負(fù)載下的波形,如圖5所示
 
                       圖5
  實(shí)驗(yàn)1結(jié)論:從圖可以看出,這個(gè)脈沖寬度隨負(fù)載的變化在逐漸變寬??梢源_定,通過(guò)這個(gè)方法能夠進(jìn)行負(fù)載大小的判斷。
  具體的處理過(guò)程如下:
  電機(jī)正轉(zhuǎn)和反轉(zhuǎn)的驅(qū)動(dòng)均用可控硅實(shí)現(xiàn),對(duì)可控硅的驅(qū)動(dòng)我們采用過(guò)零點(diǎn)驅(qū)動(dòng)的方式,這樣就可以很好的獲得電機(jī)發(fā)電狀態(tài)時(shí)第1個(gè)脈沖的開(kāi)始。
  對(duì)電機(jī)的驅(qū)動(dòng)是正轉(zhuǎn)0.4秒,停0.6秒,反轉(zhuǎn)0.4秒,停0.6秒。
  當(dāng)過(guò)零點(diǎn)時(shí),可控硅斷開(kāi),此時(shí)電機(jī)進(jìn)入發(fā)電狀態(tài),開(kāi)始發(fā)出第1個(gè)脈沖,單片機(jī)獲得信號(hào)電平第1個(gè)沿變化后開(kāi)始計(jì)時(shí),到另外一個(gè)相同的沿變化時(shí)結(jié)束,所計(jì)時(shí)間就是第1個(gè)脈沖的寬度。

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  我們讓電機(jī)反復(fù)正轉(zhuǎn)和反轉(zhuǎn)6次,獲得12個(gè)這樣的脈沖。對(duì)這12個(gè)脈沖進(jìn)行處理即可獲得負(fù)載大小的表示值。
  為證明方法的可行性,我們進(jìn)行了實(shí)驗(yàn)2。
  實(shí)驗(yàn)2
  我們篩選3個(gè)偏差大的光耦,在同一臺(tái)整機(jī)上進(jìn)行了實(shí)驗(yàn),獲得了如下一組實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)(表1)
  表1
 
  實(shí)驗(yàn)2結(jié)論:從實(shí)驗(yàn)結(jié)果可以看出,光耦離散性的影響是很小的,而且可以很好的對(duì)負(fù)載大小進(jìn)行判斷。
  
  結(jié)論:

  光耦對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響主要是在放大狀態(tài)時(shí)產(chǎn)生的,只要減少光耦工作于放大狀態(tài)的時(shí)間,就可以減少光耦的影響。經(jīng)過(guò)改進(jìn)之后的方法,可以使光耦更多的工作于飽和狀態(tài),從而使檢出的結(jié)果更可考。

  參考文獻(xiàn):

  1.《光電技術(shù)》 電子工業(yè)出版社 2005年4月

  作者簡(jiǎn)介:姜德志,海爾集團(tuán)研發(fā)推進(jìn)本部大型號(hào)經(jīng)理,中國(guó)海洋大學(xué)工程碩士研究生。14年從事控制產(chǎn)品研發(fā)和管理,擁有近百項(xiàng)發(fā)明和實(shí)用新型專利。
  陳艷麗:海爾集團(tuán)研發(fā)推進(jìn)本部型號(hào)經(jīng)理,碩士,擁有近多項(xiàng)發(fā)明和實(shí)用新型專利。
  聯(lián)系方式:青島市海爾路1號(hào)海爾園中央研究院 266103
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