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一種數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)的設計

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作者:西安交通大學廉海濤張克農(nóng)王紅雨趙云鵬常羽飛 時間:2005-11-02 來源: 收藏

 

 

摘要:介紹了一種數(shù)字測試系統(tǒng)的工作原理、組成。提出了系統(tǒng)的軟硬件設計方案。該系統(tǒng)基于自定義總線結(jié)構(gòu),可測試電平范圍寬。

關(guān)鍵詞:數(shù)字測試功能測試通道板精密測量單元

隨著數(shù)字的廣泛應用,測試系統(tǒng)就顯得越來越重要。在網(wǎng)絡化集成電路可靠性試驗及測試系統(tǒng)項目中,需要檢驗某些具有寬電平范圍的軍用數(shù)字集成電路芯片,而市場上常見的中小型測試系統(tǒng)可測電平范圍達不到要求,而大型測試系統(tǒng)價格昂貴。本文介紹了為此項目研制的一種數(shù)字集成電路測試系統(tǒng),可測電平范圍達



關(guān)鍵詞: 集成電路

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