TI將展示超高速USB 3.0傳輸芯片
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Texas Instruments將在近日在東京舉行的USB Developers Conference上展示5Gbit/s傳輸測試芯片。據悉該技術可為新興的USB 3.0接口技術提高速度。
本文引用地址：http://www.ljygm.com/article/94409.htm該測試芯片專為USB 3.0設計，可在超過4米的USB 3.0傳輸線上驅動及接收信號，并保持數據的完整性。
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Texas Instruments將在近日在東京舉行的USB Developers Conference上展示5Gbit/s傳輸測試芯片。據悉該技術可為新興的USB 3.0接口技術提高速度。
本文引用地址：http://www.ljygm.com/article/94409.htm該測試芯片專為USB 3.0設計，可在超過4米的USB 3.0傳輸線上驅動及接收信號，并保持數據的完整性。
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