美國國家半導體公司宣布該公司通過多個相關SolarMagic™ 電源優(yōu)化器穩(wěn)定性的嚴格測試。這些測試結果均表明，SolarMagic的平均故障間隔時間(MTBF)長達455年，領先業(yè)界其他同類產品。而且這款芯片的保質期長達20年，是目前市場上眾多太陽能發(fā)電系統(tǒng)元器件中最穩(wěn)定可靠的產品之一。當太陽能發(fā)電系統(tǒng)受到陰影、碎片、電池板老化等環(huán)境因素影響時，SolarMagic電路仍可有效提高電池板的發(fā)電量。

　　美國國家半導體技術總監(jiān) Prasad Chaparala 表示：“美國國家半導體的產品以其卓越的品質及穩(wěn)定可靠的性能而著稱。一直以來，我們都極為重視航天系統(tǒng)、軍事設施及汽車電子系統(tǒng)等產品市場，并致力于為這類要求極為嚴格的產品開發(fā)高性能的模擬及電源管理芯片。我們將秉承產品穩(wěn)定可靠的優(yōu)良傳統(tǒng)，并充分利用這方面的技術優(yōu)勢，進一步提高太陽能發(fā)電系統(tǒng)的性能。”

　　美國國家半導體是一家專門設計并生產集成電路的半導體廠商，幾十年一直為市場提供各種模擬及電源管理芯片。基于該領域的豐富經驗，我們成功研發(fā)出穩(wěn)定可靠的SolarMagic產品。以模擬及混合信號集成電路為例來說，美國國家半導體這兩類產品的年產量高達數十億顆，且出廠產品的不合規(guī)格比率低于百萬分之一(DPPM)。

　　美國國家半導體SolarMagic 電路采用了降額設計，并進行了全面可靠的故障模式及效應分析(FMEA)、熱能測試和分析以及認證前的可靠性測試，因此具有很高的穩(wěn)定性。

　　同時，美國國家半導體SolarMagic電源優(yōu)化器成功通過了多個用于太陽能發(fā)電系統(tǒng)電路模塊檢測的環(huán)保測試，例如潮濕/高溫承受度測試、濕度/低溫(冰點以下)交替測試以及熱能交替測試。此套系統(tǒng)也成功通過多個電子系統(tǒng)可靠性測試，其中包括高溫操作壽命測試、功率溫度交替測試以及高度加速生命測試(HALT)。此外，SolarMagic電源優(yōu)化器還成功通過了超過2,000小時的可靠性測試。相關的測試結果表明這套系統(tǒng)的平均故障間隔時間(MTBF)長達455年。

　　SolarMagic電源優(yōu)化器提供各種可供搭配的關鍵性模擬芯片，均是在該公司的芯片廠及裝配廠內完成，因此保證了這些模擬芯片都采用了同樣嚴格的工藝技術。另外，這款電源優(yōu)化器的整個生產流程也采用統(tǒng)一的監(jiān)管系統(tǒng)，能嚴格控制產品品質。所有產品均經過全方位的三種溫度測試及老化測試，從而確保產品的使用壽命。

　　除了內部的嚴格測試之外，設于加州圣塔克拉拉的 Ops a La Carte LLC 公司也接受了美國國家半導體的委托，為SolarMagic電源優(yōu)化器進行多次可靠性測試。全部測試都在該公司設于圣塔克拉拉的HALT及HASS實驗室內進行。Ops a La Carte 是一家經驗豐富專門為各行各業(yè)的產品進行可靠性測試的公司。許多公司都曾委托 Ops a La Carte 公司測試其產品，包括航天系統(tǒng)、汽車電子系統(tǒng)、醫(yī)療設備、電信系統(tǒng)、國防軍備產品及發(fā)電系統(tǒng)(包括氣體燃料電池、燃油發(fā)電系統(tǒng)及太陽能發(fā)電系統(tǒng))。

　　采用SolarMagic技術的太陽能發(fā)電系統(tǒng)利用離散元件，可為太陽能發(fā)電系統(tǒng)挽回高達57%因實際環(huán)境限而造成的電量損失。SolarMagic電源優(yōu)化器定于2009年5月下旬左右在北美洲及歐洲正式推出，并將于年底前在亞太區(qū)推出。