功率半導(dǎo)體器件AQG324試驗(yàn)認(rèn)證,IGBT測試就選廣電計(jì)量檢測
功率半導(dǎo)體器件AQG324試驗(yàn)認(rèn)證
功率模塊作為新能源汽車動(dòng)力、電源系統(tǒng)中的核心器件迎來了黃金發(fā)展期,目前中高端功率模塊市場仍處于外資壟斷的格局,國產(chǎn)功率模塊技術(shù)及性能還有待進(jìn)一步完善,并且由于汽車級功率模塊標(biāo)準(zhǔn)長期缺失,國產(chǎn)模塊可靠性驗(yàn)證未能得到國際認(rèn)可。
解決方案
AQG324由ECPE"汽車電力電子模塊認(rèn)證"工作組頒布,其制定了完善的車規(guī)級功率模塊可靠性試驗(yàn),可以有效驗(yàn)證產(chǎn)品可靠性,指導(dǎo)廠商更深入了解其產(chǎn)品可靠性能,從而加快產(chǎn)品開發(fā)速度,優(yōu)化工藝流程。
廣電計(jì)量專家團(tuán)隊(duì)深入解讀AQG324及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn),建立功率模塊可靠性驗(yàn)證技術(shù)能力,可以為功率半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)上下游企業(yè)提供具有權(quán)威性的AQG324檢測驗(yàn)證報(bào)告。
試驗(yàn)項(xiàng)目
模塊檢測:靜態(tài)參數(shù)、動(dòng)態(tài)參數(shù)、連接層檢測(SAM)、IPIM、OMA;
模塊特性測試:寄生雜散電感、熱阻值、短路耐量、絕緣測試、機(jī)械參數(shù)檢測;
環(huán)境測試:熱沖擊、機(jī)械振動(dòng)、機(jī)械沖擊;
壽命測試:功率循環(huán)(PCsec)、功率循懷(PCmin)、高溫存儲、低溫存儲、高溫反偏、高溫棚偏置、高溫高濕反偏;
覆蓋標(biāo)準(zhǔn)
· DIN EN ISO/IEC 17025:General Requirements for the Competence of Testing and Calibration Laboratories
·IEC60747系列∶Semiconductor Devices, Discrete Devices ·IEC60749系列∶Semiconductor Devices-Mechanical and Climatic
Test Methods
· DIN EN 60664系列∶Insulation Coordination for Equipment Within
Low-Voltage Systems
· DIN EN 60069系列∶Environmental testing · JESD22-A192009:Low Temperature Storage Life
IGBT功率器件AQG324試驗(yàn)認(rèn)證聯(lián)系:
李經(jīng)理 138 0884 0060
lisz@grgtest.com
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