一 前言

　　在高速串行技術(shù)如此廣泛應(yīng)用的今天，簡單易用的USB堪稱是PC平臺上最成功的I/O技術(shù)，普及率幾乎100%。而且隨著終端用戶對于高速USB設(shè)備應(yīng)用需求的不斷增加，越來越多的嵌入式通信類終端產(chǎn)品開始增加了USB2.0主機(jī)接口的設(shè)計(jì)以滿足客戶的應(yīng)用需求。成熟的應(yīng)用技術(shù)由PC平臺轉(zhuǎn)向嵌入式平臺的已經(jīng)成為一種趨勢。為了滿足USB2.0一致性應(yīng)用的需求，所有的USB2.0設(shè)計(jì)都必須滿足USB IF發(fā)布的USB2.0物理層一致性測試要求。相對于比較成熟的PC平臺USB2.0 主機(jī)測試技術(shù)而言，基于通信類終端的嵌入式USB2.0 主機(jī)的測試面臨更多的挑戰(zhàn)。特別是進(jìn)行二次開發(fā)的應(yīng)用廠商而言，如何滿足USB2.0物理層一致性測試要求很大程度上需要原廠在測試模式以及測試封包方面提供更多的支持。但應(yīng)用需求的多樣化導(dǎo)致了許多設(shè)計(jì)架構(gòu)脫離了原廠的測試狀態(tài)機(jī)控制范疇，問題接踵而來。

　　二 嵌入式USB2.0主機(jī)測試

　　1 產(chǎn)品USB部分原理及測試環(huán)境

　　產(chǎn)品USB控制原理

　　USB控制主機(jī)采用某大型通訊類方案提供商的IAD解決方案，片內(nèi)集成一個(gè)USB2.0控制器，然后通過一個(gè)USB HUB中繼對外提供2個(gè)高速主機(jī)接口。

　　測試設(shè)備：

　　DUT_USB2.0功能框圖