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低功耗制造性測試的設計-第二部分

  • 假設設計的某個時鐘驅動了大量觸發(fā)器，以至它們的峰值開關動作超過設計的總體功率預算。我們不希望測試邏輯去改變任何時鐘，相反我們將設計分割成N個模塊，各模塊具有自己的掃描啟動引腳，并且包含自己的掃描壓縮邏輯和掃描鏈。(如圖2所示)模塊的數(shù)量和組成需要仔細選取，以便任何單個模塊(包括具有大部分觸發(fā)器的模塊)的觸發(fā)器開關速率不超過總功率預算。從這方面講，可以認為分割將功率預算硬連(hardwire)進了設計。
  • 關鍵字： ATPG  數(shù)字電路設計  SoC  DFT  

低功耗制造測試的設計-第一部分

  • 完全的數(shù)字電路測試方法通常能將動態(tài)功耗提高到遠超出其規(guī)范定義的范圍。如果功耗足夠大，將導致晶圓檢測或預老化(pre-burn-in)封裝測試失效，而這需要花大量的時間和精力去調試。當在角落條件(corner conditions)下測試超大規(guī)模SoC時這個問題尤其突出，甚至會使生產(chǎn)線上出現(xiàn)不必要的良率損失，并最終減少制造商的毛利。避免測試功耗問題的最佳途徑是在可測試性設計(DFT)過程中結合可感測功率的測試技術。本文將首先介紹動態(tài)功耗與測試之間的關系，以說明為何功率管理現(xiàn)在比以往任何時候都迫切；然后介紹兩
  • 關鍵字： ATPG  DFT  數(shù)字電路測試  

混合掃描測試解決方案的優(yōu)勢

  • 掃描測試是測試集成電路的標準方法。絕大部分集成電路生產(chǎn)測試是基于利用掃描邏輯的 ATPG(自動測試向量生成)。掃描 ATPG 是一項成熟的技術，特點是結果的可預測性高并且效果不錯。它還能實現(xiàn)精確的缺陷診斷，有助于
  • 關鍵字： 掃描測試    IC測試    ATPG  

微捷碼向LogicVision提供ATPG技術授權

  •         美國加州圣荷塞，芯片設計解決方案供應商微捷碼（Magma®）設計自動化有限公司日前宣布，公司已向領先的半導體內置自測（BIST）和診斷解決方案提供商LogicVision公司提供了自動測試向量生成（ATPG）技術的授權。通過這項協(xié)議，LogicVision公司將能夠更快拓展產(chǎn)品組合，為客戶提供更全面的可測性設計（DFT）功能以改善測試質量、縮短納米IC設計周期并降低納米IC成本。此外，兩家公司還簽署了一份單獨協(xié)議
  • 關鍵字： 微捷碼  BIST  ATPG  DFT  IC   

微捷碼發(fā)表有片上掃描鏈壓縮功能的Talus ATPG與Talus ATPGX

  • 　　捷碼(Magma)設計自動化公司發(fā)表有片上掃描鏈壓縮功能的Talus ATPG與Talus ATPGX。這些先進的自動測試向量生成(ATPG) 產(chǎn)品使設計師能明顯改進測試質量, 減少周轉時間并且降低納米級芯片 的成本。藉由整合Talus ATPG 和Talus ATPGX進 入Talus 物理設計環(huán)境, 微捷碼提供唯一真正實現(xiàn)物理相關DFT(Physically Aware DFT™)的IC 實現(xiàn)流程。 　　今天芯片設計的復雜度和更小的尺寸使測試制作的IC更加復雜。新的失效機制不斷涌現(xiàn)。
  • 關鍵字： 消費電子  捷碼  ATPG  ATPGX  消費電子  

微捷碼發(fā)表有片上掃描鏈壓縮功能的Talus ATPG與Talus ATPGX

  • 微捷碼(Magma)設計自動化公司發(fā)表有片上掃描鏈壓縮功能的Talus  ATPG與Talus ATPGX。這些先進的自動測試向量生成(ATPG) 產(chǎn)品使設計師能明顯改進測試質量, 減少周轉時間并且降低納米級芯片 的成本。藉由整合Talus ATPG 和Talus ATPGX進 入Talus 物理設計環(huán)境, 微捷碼提供唯一真正實現(xiàn)物理相關DFT（Physically Aware DFT） 的IC 實現(xiàn)流程。        &n
  • 關鍵字： 消費電子  微捷碼  Talus  ATPG  DFT  MCU和嵌入式微處理器  
共6條 1/1 1

atpg介紹

自動測試圖樣產(chǎn)生(Automatic test pattern generation, ATPG) 系統(tǒng)是一種工具，產(chǎn)生資料給制造出來后的數(shù)字電路作測試使用。 測試超大型集成電路，要達到非常高的錯誤涵蓋率（en:Fault coverage）是非常困難的工作，因為它的復雜度很高。 針對組合邏輯（Combinatorial logic）和循序邏輯（Sequential logic）的電路測試，必須 [ 查看詳細 ]

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