ATPG

自動(dòng)測(cè)試圖樣產(chǎn)生(Automatic test pattern generation, ATPG) 系統(tǒng)是一種工具，產(chǎn)生資料給制造出來(lái)后的數(shù)字電路作測(cè)試使用。 測(cè)試超大型集成電路，要達(dá)到非常高的錯(cuò)誤涵蓋率（en:Fau...... [查看詳細(xì)]