hyper-na euv 文章 進(jìn)入hyper-na euv技術(shù)社區(qū)
三星領(lǐng)先臺(tái)積電引入7納米EUV技術(shù),今年代工市場(chǎng)欲超車聯(lián)電
- 據(jù)日經(jīng)中文網(wǎng)報(bào)道,7月11日,韓國三星電子在首爾舉行的說明會(huì)上,向客戶等各方介紹了半導(dǎo)體代工業(yè)務(wù)的技術(shù)戰(zhàn)略。新一代7納米半導(dǎo)體將采用最尖端的制造技術(shù),從2018年開始量產(chǎn)。此次說明會(huì)上,三星展示了發(fā)展藍(lán)圖,記載了決定性能好壞的電路線寬的微細(xì)化進(jìn)程。三星表示,采用“極紫外光刻(EUV光刻)”新技術(shù)的7納米產(chǎn)品計(jì)劃從2018年開始接單,5納米產(chǎn)品和4納米產(chǎn)品分別將從2019年和2020年開始接單。EUV能大幅提高電路形成工序的效率,7納米以下的產(chǎn)品曾被認(rèn)為難以實(shí)現(xiàn)商用化,而EUV是
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延續(xù)摩爾定律 EUV技術(shù)角色關(guān)鍵

- 臺(tái)積電已宣布將在2018年第二代7奈米制程中開始導(dǎo)入EUV微影技術(shù),以做為5奈米全面采用EUV的先期準(zhǔn)備。 盡管目前EUV設(shè)備曝光速度仍不如期待且價(jià)格極為高昂,但與采用雙重或多重曝光技術(shù)相比,EUV的投資對(duì)解決先進(jìn)制程不斷攀升的成本問題仍是相對(duì)有力的解決方案。 每一季的臺(tái)積電法說會(huì)上,張忠謀董事長(zhǎng)或是共同執(zhí)行長(zhǎng)對(duì)于極紫外光(Extreme Ultraviolet, EUV)的發(fā)展進(jìn)度必會(huì)對(duì)臺(tái)下觀眾做一專門的報(bào)告,法人代表對(duì)于EUV的導(dǎo)入時(shí)程亦表示高度興趣。 到底EUV的發(fā)展對(duì)于臺(tái)積電未來發(fā)展甚至
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摩爾定律唯一規(guī)則:永遠(yuǎn)不要說不可能

- 摩爾定律在過去52年中一直是“更小,更快,更便宜”的代名詞,但越來越多的人認(rèn)為它只是諸多選擇之一,芯片行業(yè)開始針對(duì)特定的市場(chǎng)需求進(jìn)行調(diào)整。 這并沒有使得摩爾定律失去意義。眾多行業(yè)人士透露,從16/14nm沖擊7nm的公司數(shù)量要多于直接沖擊16/14nm finFET的公司。但是,這種遷移也需要考慮到: · 當(dāng)代工廠利用16/14nm finFET進(jìn)行相同度量時(shí),節(jié)點(diǎn)命名在20nm之后就變得無意義。因此,對(duì)于10nm或7nm并沒有一致的定義。更有價(jià)值的數(shù)
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KLA-Tencor 快速有效解決客戶良率問題 與中國半導(dǎo)體行業(yè)一同成長(zhǎng)
- 看好中國半導(dǎo)體行業(yè)未來持續(xù)的蓬勃發(fā)展,工藝控制與成品率管理解決方案提供商KLA-Tencor (科天)透過半導(dǎo)體檢測(cè)與量測(cè)技術(shù),以最快的速度及最有效的方式 ,幫助客戶解決在生產(chǎn)時(shí)面對(duì)的良率問題。KLA-Tencor立志于幫助中國客戶一起提升良率,降低生產(chǎn)成本,提高生產(chǎn)效率,并與中國半導(dǎo)體行業(yè)一同成長(zhǎng)?! LA-Tencor中國區(qū)總裁張智安表示,KLA-Tencor成立至今40年,現(xiàn)于全球17國擁有6000多位員工。2016財(cái)年,KLA-Tencor營(yíng)收表現(xiàn)來到30億美元。從硅片檢
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半導(dǎo)體押寶EUV ASML突破瓶頸 預(yù)計(jì)2018年可用于量產(chǎn)
- 摩爾定律(Moore’s Law)自1970年代左右問世以來,全球半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)均能朝此一定律規(guī)則前進(jìn)發(fā)展,過去數(shù)十年來包括光微影技術(shù)(Photolithography)等一系列制程技術(shù)持續(xù)的突破,才得以讓半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)能依照摩爾定律演進(jìn),進(jìn)而帶動(dòng)全球科技產(chǎn)業(yè)研發(fā)持續(xù)前進(jìn)。 但為延續(xù)產(chǎn)業(yè)良性發(fā)展,光是依賴于傳統(tǒng)微影技術(shù)仍不夠,因此芯片制造商也正在苦思試圖進(jìn)行一次重大且最具挑戰(zhàn)的變革,即發(fā)展所謂的“極紫外光”(EUV)微影技術(shù),該技術(shù)也成為臺(tái)積電、英特爾(Intel)等
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基于Hyper-V虛擬化技術(shù)實(shí)現(xiàn)故障轉(zhuǎn)移
- 航空氣象要素對(duì)飛行安全的影響越來越大,氣象探測(cè)設(shè)備的重要性也越來越高。成陽國際機(jī)場(chǎng)配備了風(fēng)廓線雷達(dá),能夠?yàn)楹娇诊w行提供機(jī)場(chǎng)上空的風(fēng)速風(fēng)向和溫度?;诒U巷L(fēng)廓線雷達(dá)正常運(yùn)行的目的,通過Hyper-V虛擬化技術(shù)和故障轉(zhuǎn)移集群的方法,結(jié)合人為干預(yù)設(shè)備的試驗(yàn),實(shí)現(xiàn)了風(fēng)廓線雷達(dá)系統(tǒng)的故障轉(zhuǎn)移功能,平均故障修復(fù)時(shí)間提高了95%。
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半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)中重要一環(huán) EUV光刻最新進(jìn)展如何
- ASML宣稱它的Q2收到4臺(tái)EUV訂單,預(yù)期明年EUV發(fā)貨達(dá)10臺(tái)以上。 EUV光刻設(shè)備一再延遲,而最新消息可能在2020年時(shí)能進(jìn)入量產(chǎn),而非??赡軕?yīng)用在5nm節(jié)點(diǎn)。 業(yè)界預(yù)測(cè)未來在1znm的存儲(chǔ)器生產(chǎn)中可能會(huì)有2層或者以上層會(huì)采用它,及在最先進(jìn)制程節(jié)點(diǎn)(7 or 5nm)的邏輯器件生產(chǎn)中可能會(huì)有6-9層會(huì)使用它。 ASML計(jì)劃2018年時(shí)它的EUV設(shè)備的產(chǎn)能再擴(kuò)大一倍達(dá)到年產(chǎn)24臺(tái),每臺(tái)售價(jià)約1億美元,目前芯片制造商己經(jīng)安裝了8臺(tái),正在作各種測(cè)試。 半導(dǎo)體顧問公司的分析師Ro
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重回摩爾定律兩大武器... EUV+三五族 成大勢(shì)所趨
- 英特爾在14奈米及10奈米制程推進(jìn)出現(xiàn)延遲,已影響到處理器推出時(shí)程,也讓業(yè)界及市場(chǎng)質(zhì)疑:摩爾定律是否已達(dá)極限?不過,英特爾仍積極尋求在7奈米時(shí)代重回摩爾定律的方法,其中兩大武器,分別是被視為重大微影技術(shù)世代交替的極紫外光(EUV),以及開始采用包括砷化銦鎵(InGaAs)及磷化銦(InP)等三五族半導(dǎo)體材料。 摩爾定律能否持續(xù)走下去,主要關(guān)鍵在于微影技術(shù)難度愈來愈高。目前包括英特爾、臺(tái)積電、三星等大廠,主要采用多重曝光(multi-patterning)的浸潤(rùn)式微影(immersionlitho
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EUV微影技術(shù)準(zhǔn)備好了嗎?

- 又到了超紫外光(EUV)微影技術(shù)的關(guān)鍵時(shí)刻了。縱觀整個(gè)半導(dǎo)體發(fā)展藍(lán)圖,研究人員在日前舉辦的IMEC技術(shù)論壇(ITF)上針對(duì)EUV微影提出了各種大大小小即將出現(xiàn)的挑戰(zhàn)。 到了下一代的10nm節(jié)點(diǎn),降低每電晶體成本將會(huì)變得十分棘手。更具挑戰(zhàn)性的是在7nm節(jié)點(diǎn)時(shí)導(dǎo)入EUV微影。更進(jìn)一步來看,當(dāng)擴(kuò)展到超越5nm節(jié)點(diǎn)時(shí)可能就需要一種全新的晶片技術(shù)了。 目前最迫在眉睫的是中期挑戰(zhàn)。如果長(zhǎng)久以來一直延遲的EUV微影系統(tǒng)未能在2017年早期就緒的話,7nm制程將會(huì)成為一個(gè)昂貴的半節(jié)點(diǎn)。 不過,研究人
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EUV將在7納米節(jié)點(diǎn)發(fā)威?

- 核心提示:荷蘭半導(dǎo)體設(shè)備大廠 ASML 現(xiàn)在勉為其難地承認(rèn)了其客戶私底下悄悄流傳了好一陣子的情況:大多數(shù)半導(dǎo)體廠商仍將采用傳統(tǒng)浸潤(rùn)式微影技術(shù)來生產(chǎn)10奈米制程晶片,而非延遲許久的超紫外光微影(EUV)技術(shù);不過這恐怕將使得10奈米節(jié)點(diǎn)因?yàn)闊o法壓低每電晶體成本,而成為不受歡迎的制程。 荷蘭半導(dǎo)體設(shè)備大廠 ASML 現(xiàn)在勉為其難地承認(rèn)了其客戶私底下悄悄流傳了好一陣子的情況:大多數(shù)半導(dǎo)體廠商仍將采用傳統(tǒng)浸潤(rùn)式微影技術(shù)來生產(chǎn)10奈米制程晶片,而非延遲許久的超紫外光微影(EUV)技術(shù);不過這恐怕將使得
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KLA-Tencor推出Teron? SL650 光罩檢測(cè)系統(tǒng)

- KLA-Tencor 公司(納斯達(dá)克股票代碼:KLAC)宣布推出 Teron? SL650,該產(chǎn)品是專為集成電路晶圓廠提供的一種新型光罩質(zhì)量控制解決方案,支持 20nm 及更小設(shè)計(jì)節(jié)點(diǎn)。Teron SL650 采用 193nm光源及多種 STARlight? 光學(xué)技術(shù),提供必要的靈敏度和靈活性,以評(píng)估新光罩的質(zhì)量,監(jiān)控光罩退化,并檢測(cè)影響成品率的光罩缺陷,例如在有圖案區(qū)和無圖案區(qū)的晶體增長(zhǎng)或污染。此外,Teron SL650 擁有業(yè)界領(lǐng)先的產(chǎn)能,可支持更快的生產(chǎn)周期,以滿足檢驗(yàn)
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